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相控陣探傷儀的知識點詳解
閱讀：1958 發(fā)布時間：2021-8-25
相控陣探傷儀通過軟件可以單獨控制相控陣探頭中每個晶片的激發(fā)時間，從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點尺寸。這種使用扇形掃查方式能提供一定角度范圍的掃查圖像，因此不必像傳統(tǒng)超聲那樣需要頻繁更換不同K值的探頭，就可以輕松覆蓋檢測區(qū)域。作為無損檢測利器，相控陣探傷儀能夠快速、便捷、無損傷、準(zhǔn)確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷(裂紋、疏松、氣孔、夾雜等)的檢測、定位、評估和診斷。既可以用于實驗室,也可以用于工程現(xiàn)場，如今在各個行業(yè)的應(yīng)用日漸廣泛。
相控陣探傷儀可進(jìn)行快速檢測，并生成被測工件內(nèi)部結(jié)構(gòu)的精確、詳細(xì)的橫截面圖像。相控陣技術(shù)使用多個超聲晶片及電子時間延遲，創(chuàng)建可以電子方式傳播、掃描、掃查及聚焦的聲波，以進(jìn)行快速檢測、完整的數(shù)據(jù)存儲，以及多角度的檢測。相控陣技術(shù)可提供極為可靠的測量結(jié)果。
選擇使用相控陣探傷儀時，操作人員無需更換探頭或楔塊就能方便地利用一個探頭達(dá)到多個角度和聚焦深度。扇形掃描和精確的波束控制顯著地提高了探測缺