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[供應]日本NIKON尼康第三代激光掃描測頭
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  • 日本NIKON尼康第三代激光掃描測頭
貨物所在地:
湖北武漢市
更新時間:
2022-11-25 21:00:08
有效期:
2022年11月25日 -- 2023年5月25日
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產品簡介

日本NIKON尼康第三代激光掃描測頭 ,革命性第三代激光掃描測頭 精度可媲美接觸式測頭LC15Dx *可以替代接觸式測頭,用于日益普遍的高精度三坐標測量機應用。該機器可在不影響生產周期的情況下更地測量產品尺寸。此外,它還能更高效地測量多種部件、幾何體及材料,其中包括因尺寸極小或易碎而不宜使用接觸式測頭測量的部件。

詳細介紹

 日本NIKON尼康第三代激光掃描測頭 ,革命性第三代激光掃描測頭 精度可媲美接觸式測頭LC15Dx *可以替代接觸式測頭,用于日益普遍的高精度三坐標測量機應用。該機器可在不影響生產周期的情況下更地測量產品尺寸。此外,它還能更高效地測量多種部件、幾何體及材料,其中包括因尺寸極小或易碎而不宜使用接觸式測頭測量的部件。 

優(yōu)點

精度可媲美接觸式測頭 

采用激光掃描測頭技術的 LC15Dx 達到了與接觸式測頭同級別的精度。在按照 ISO 10360-2 MPEP 和 ISO 10360-5 MPEAL 的測試中,LC15Dx 達到了與使用三坐標測量機和接觸式測頭相當的精度。但與接觸式測頭不同的是,LC15Dx 使用非接觸式 3D 激光三角測量法直接測量物體表面并消除了測頭補償誤差。掃描測頭內部裝有熱穩(wěn)定器,可解決激光掃描測頭在未達到工作溫度時容易出現的不穩(wěn)定和延遲問題。 

操作輕松的多功能掃描

尼康*的 ESP3 技術可針對每個測量點實時智能調整激光設定。它可以更高效地測量更多種類的表面材料、飾面、顏色及連接體(包括小尺寸和易碎部件)及混合材料的尺寸,且無需用戶干預、手動調節(jié)以及表面噴粉。*的濾光軟件過濾若干非正常反射,而高級日光濾光片則可吸收環(huán)境光。 

更高的產品質量檢測水準

全局比較功能可提供產品外觀尺寸的全 3D 視圖。整個部件可與 CAD 模型進行對比檢查,并用色彩映射高亮顯示需要關注的區(qū)域。還可使用彈出菜單、截面圖和幾何尺寸與公差(GD&T)庫進行進一步的研究和分析。用戶可根據需要讓設備自動生成或簡易或詳細的測量報告。 

適合各類應用的直觀軟件

 LC15Dx 可使用包括 FOCUS 和 CAMIO在內,適用于部件與 CAD 對比檢測和特征檢測的常用軟件工具包。

重要功能包括:

• CAD 編程                      • 多傳感器三坐標測量機 
• 擬合                       • 離線編程 
• 部件與 CAD 對比       • 點云測量 
• 特征檢測                      • GD&T 庫 
• 葉片分析                      • 教學編程 
• 色彩報告                      • 離線模擬




應用

 測量高精度部件和小型幾何體

LC15Dx 在測量多種高精度部件和幾何體(包括精細部件、半鋼性部件和高性能材料)時具有顯著優(yōu)勢:

處理:生產 - 研發(fā) - 逆向工程 
方法:機械加工 - 模塑 - 模壓 - 澆鑄 - 鍛造 
材料:金屬 - 塑料 - 橡膠 - 陶土 - 陶瓷 - 合成材料 
表面處理:機械加工 - 拋光 - 電鍍 - 油漆 - 混色 
結構: 剛硬 - 柔軟 - 柔韌 - 易碎 
特征: 表面 - 幾何特征 - 剖面 - 截面

 多傳感器三坐標測量機

結合激光掃描和接觸式探測

某些情況下,采用單傳感器技術無法測量所有特征。LC15Dx 可結合使用選購的接觸式測頭構成多傳感器三坐標多功能測量機。根據應用需求,可在相同的檢測項目中單獨或共同使用這兩項技術。在三坐標測量機平臺上加裝切換和存儲支架選購件后,可以自動切換傳感器。

 

升級改造

提升當前三座標測量機的能力 

使用 LC15Dx 來改進您當前的三座標測量機是一種低成本高收益的解決方案。這種改進基于現有的三座標測量機控制器硬件,附之以兼容的*測頭系統,構成可進行接觸及非接觸式測量的多傳感器三座標多功能測量機。


LC15Dx 改進套件可用于以下三座標測量機控制器系統。

• Aberlink       • Hexagon DEA                       • Renishaw 
• Deva            • Hexagon Brown & Sharpe    • Wenze 
• Coord3        • Hexagon Sheffield                  • Werth 
• Dukin           • Mitutoyo                               • Zeiss 


 規(guī) 格  

                                                                        

探測誤差(MPEP)12.5μm (0.0001in)
多測針測試(MpeAL)26μm (0.00024in)
分辨率(點距)22μm (0.00087in)
數據采集(近似值)70,000 點/秒
每線點數(近似值)900
測量溫度范圍18-22°C (64.4-71.6°F)
工作溫度范圍10-40°C (50-104°F)
預熱時間0(零)秒
重量370g (13oz)
防護等級IP30
電源110/240VAc, 50/60Hz 5A
增強掃描測頭性能(ESP3)  √
日光濾光片   √
測頭兼容性3PH10M, PH10MQ, CW43, PHS
激光類型2 類(670μm)

 日本NIKON尼康第三代激光掃描測頭 ,革命性第三代激光掃描測頭 精度可媲美接觸式測頭LC15Dx *可以替代接觸式測頭,用于日益普遍的高精度三坐標測量機應用。該機器可在不影響生產周期的情況下更地測量產品尺寸。此外,它還能更高效地測量多種部件、幾何體及材料,其中包括因尺寸極小或易碎而不宜使用接觸式測頭測量的部件。 

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