當(dāng)前位置:南京大展檢測(cè)儀器有限公司>>平板導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀>> 快速導(dǎo)熱儀
儀器介紹:
瞬態(tài)平面熱源技術(shù)(TPS)開發(fā)的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀,可用于各種不同類型、不同形態(tài)材料的熱傳導(dǎo)性能的測(cè)試。
儀器特點(diǎn):
1.測(cè)試范圍廣泛,測(cè)試性能穩(wěn)定,在國內(nèi)同類儀器中,處于優(yōu)先水平。
2.直接測(cè)量,測(cè)試時(shí)間5-160s左右可設(shè)置,能快速準(zhǔn)確的測(cè)出導(dǎo)熱系數(shù),節(jié)約了大量的時(shí)間。
3.不會(huì)和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響。
4.無須特別的樣品制備,對(duì)樣品形狀并無特殊要求,塊狀固體只需相對(duì)平滑的樣品表面并且滿足長寬至少為探頭直徑的兩倍即可。
5.對(duì)樣品實(shí)行無損檢測(cè),意味著樣品可以重復(fù)使用。
6.探頭采用雙螺旋線的結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì),結(jié)合專屬數(shù)學(xué)模型,利用核心算法對(duì)探頭上采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計(jì)算。
7.樣品臺(tái)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)巧妙,操作方便,適合放置不同厚度的樣品,同時(shí)簡潔美觀。
8.探頭上的數(shù)據(jù)采集使用了進(jìn)口的數(shù)據(jù)采集芯片,該芯片的高分辨率,能使測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確可靠。
9.主機(jī)的控制系統(tǒng)使用了ARM微處理器,運(yùn)算速度比傳統(tǒng)的微處理器快,提高了系統(tǒng)的分析處理能力,計(jì)算結(jié)果更加準(zhǔn)確。
10.儀器可用于塊狀固體、膏狀固體、顆粒狀固體、膠體、液體、粉末、涂層、薄膜、保溫材料等熱物性參數(shù)的測(cè)定。
儀器技術(shù)參數(shù):
測(cè)試范圍 | 0.0001—300W/(m*K) |
測(cè)量溫度范圍 | 室溫—130℃ |
探頭直徑 | 一號(hào)探頭7.5mm;二號(hào)探頭15mm; 三號(hào)探頭50mm |
精度 | ±3% |
重復(fù)性誤差 | ≤3% |
測(cè)量時(shí)間 | 5~160秒 |
電源 | AC 220V |
整機(jī)功率 | <500w |
測(cè)試樣品功率P | 一號(hào)探頭功率0;二號(hào)探頭功率0 |
樣品規(guī)格 | 一號(hào)探頭所測(cè)樣品(≥15*15*3.75mm) 二號(hào)探頭所測(cè)樣品 (≥30*30*7.5mm) 三號(hào)探頭所測(cè)樣品 (≥50*50*7.5mm) (選配,也可以定制其他規(guī)格) |
定制粉末測(cè)試容器一套 |
DZDR-S 快速導(dǎo)熱儀的測(cè)試方法
DZDR-S 快速導(dǎo)熱儀局部圖片展示