比表面和孔隙度是確定材料質(zhì)量和用途的兩個重要物理性質(zhì)，需要嚴(yán)格控制才能實現(xiàn)材料的特殊功能。即使對于相同粒度的粉體材料，也會由于材料內(nèi)部顆粒比表面和孔隙度的差異，極大的影響材料的性能特點?；瘜W(xué)吸附分析技術(shù)可以提供很多必要的信息（如金屬分散度、活性金屬表面積、活性顆粒尺寸和催化材料表面活性），以評價正在開發(fā)和生產(chǎn)的催化材料。粒度與穩(wěn)定性是決定膠體性質(zhì)的兩個參數(shù)，膠體的穩(wěn)定性又與Zeta電位密切相關(guān)，在研究和生產(chǎn)過程中，我們需要測定Zeta電位來確定膠體的分散情況從而確定產(chǎn)品的性能。
　　
　　作為材料表征公司，我們一直致力于研發(fā)材料表征的方法與技術(shù)，為廣大用戶提供更、更廣泛應(yīng)用的測試技術(shù)。為了和大家分享我們的研究成果，美國麥克儀器公司準(zhǔn)備在12月4日在大連理工大學(xué)舉辦題為“粉體與納米顆粒表面表征技術(shù)”的技術(shù)講座，我們誠邀您前來共同探討、交流本行業(yè)的發(fā)展趨勢。
　　
　　研討會時間：12月4日
　　
　　地點：大連理工大學(xué)化工實驗樓C117室
　　
　　地址：遼寧省大連市甘井子區(qū)凌工路2號
　　
　　主講人：麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司總許人良博士、應(yīng)用部鐘華博士
　　
　　會務(wù)：郭銳
　　
　　：-807
　　
　　技術(shù)講座基本內(nèi)容：
　　
　　1）納米粒度測量與Zeta電位表征
　　
　　2）顆粒及粉末的氣體吸附表征技術(shù)：
　　
　　氣體物理吸附和化學(xué)吸附理論
　　
　　物理吸附分析條件及數(shù)據(jù)的處理：
　　
　　如何確定合適的分析條件，
　　
　　如何對數(shù)據(jù)進(jìn)行處理
　　
　　許人良博士簡介：
　　
　　許人良博士現(xiàn)任麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司總。從事顆粒特性研究和檢測技術(shù)30多年，是該領(lǐng)域資深專家。他于1987年和1988年在美國theStateUniversityofNewYorkatStonyBrook獲得碩士和博士學(xué)位。2002年獲得美國NovaSoutheasternUniversity的MBA學(xué)位。
　　
　　他發(fā)表了基礎(chǔ)理論研究和應(yīng)用領(lǐng)域的科技文章100余篇；獲得2項美國；研究成果在科學(xué)檢索引用超過1500多次；在美國各大學(xué)和世界各地進(jìn)行過學(xué)術(shù)講座100多次；并著有顆粒表征中的著作《ParticleCharacterization:LightScatteringMethods》?，F(xiàn)在擔(dān)任5個專業(yè)期刊（Macromolecules,Langmuir,J.Coll.Inter.Sci.，等期刊）的評委；ISO,ASTM,IABofPERC的委員會成員；多項標(biāo)準(zhǔn)的起草者；被列為美國和世界名人榜。許人良博士經(jīng)?；钴S在中國國內(nèi)學(xué)術(shù)領(lǐng)域，在多所大學(xué)進(jìn)行科技講座。現(xiàn)任上海華東理工大學(xué)名譽(yù)教授，上海師范大學(xué)名譽(yù)教授，沈陽科學(xué)技術(shù)學(xué)會特邀外國專家。他是美國標(biāo)準(zhǔn)化委員會專家組組長、粉體檢測與控制聯(lián)合會理事、中國顆粒學(xué)會顆粒測試專業(yè)委員會理事、美國ASTM顆粒表征分委成員、美國化學(xué)學(xué)會（ACS）會員、美國物理學(xué)會（APS）會員、美國化學(xué)工程師學(xué)會（AIChE）會員、美國檢測和材料學(xué)會（ASTM）會員。
　　
　　他曾獲得的榮譽(yù)和獎勵有：美國榮譽(yù)協(xié)會SigmaBetaDelta獎；ACertificateofAppreciationbyMayorofMetropolitanDadeCounty,FL；ThePostdoctoralFellowshipawardedbyNationalScienceEngineeringResearchCouncilofCanada；ACertificatefortheSherwin-WilliamsAwardbyAmericanChemicalSociety；TheWorldBankFellowshipbytheUnitedNation等。