SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀的主要優(yōu)點(diǎn)有：

　　快速結(jié)果：在60s甚至更短的時(shí)間內(nèi)完成顆粒物粒徑分布的掃描；

 

　　高分辨的數(shù)據(jù)：掃描是連續(xù)的，因此在數(shù)據(jù)分布上不存在間隙?？倻y(cè)量通過(guò)為162個(gè)，每十進(jìn)范圍64個(gè)通道，可為任何超細(xì)微粒粒徑測(cè)定提供較高的準(zhǔn)確度。

 

　　寬的粒徑范圍：應(yīng)用多樣性的靜電分級(jí)器和凝聚粒子計(jì)數(shù)器，可提供顆粒物粒徑測(cè)量。

 

　　寬的濃度范圍：可在1～10的8次方個(gè)/立方厘米范圍之間進(jìn)行濃度掃描。

 

　　操作簡(jiǎn)單：靜電分級(jí)器配有內(nèi)置前通道面板和控制把手，允許用戶(hù)通過(guò)快速設(shè)定進(jìn)行掃描，并監(jiān)測(cè)或控制儀器功能。

 

　　實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)顯示：可在微軟Windows操作系統(tǒng)下工作，操作簡(jiǎn)單，并可實(shí)時(shí)顯示各種圖形、表格和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。

 

　　SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀廣泛應(yīng)用于測(cè)量氣溶膠粒徑分布的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)。該系統(tǒng)同樣被應(yīng)用于對(duì)液體懸浮顆粒進(jìn)行準(zhǔn)確的納米顆粒粒徑測(cè)量。粒徑測(cè)量是審慎的技術(shù)，在該技術(shù)方法中計(jì)數(shù)濃度會(huì)被直接測(cè)量而無(wú)需假設(shè)粒徑分布的形狀。該方法不依賴(lài)于粒子或液體的折射率且具有高度的粒徑測(cè)量精度和測(cè)量可重復(fù)性。采用模塊化、基于組件的設(shè)計(jì)，不但具有非常高的粒徑分辨率，還具有快速掃描和自動(dòng)組件識(shí)別功能。