帕剌斯儀器(上海)有限公司

掃描電遷移率粒徑譜儀是精確測量顆粒尺寸的利器

時間:2023-7-12 閱讀:436
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   在現(xiàn)代科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用中,粒子的大小對于材料特性和性能具有重要影響。為了實(shí)現(xiàn)對顆粒尺寸的準(zhǔn)確測量,科學(xué)家們開發(fā)了各種儀器和技術(shù)。其中,掃描電遷移率粒徑譜儀是一種被廣泛使用的工具,通過測量顆粒的電遷移速度來確定其粒徑分布。
 
  1.原理:
  掃描電遷移率粒徑譜儀基于電遷移速度與顆粒直徑之間的關(guān)系進(jìn)行測量。該儀器通過將待測顆粒懸浮在氣體中,并施加電場使顆粒沿著設(shè)定的路徑運(yùn)動。粒徑較小的顆粒在電場中受到更大的作用力,因此它們的電遷移速度更快。通過測量顆粒的電遷移速度,并結(jié)合經(jīng)驗公式或數(shù)值模擬,可以反推出顆粒的粒徑分布。
 
  2.應(yīng)用:
  在多個領(lǐng)域中得到廣泛應(yīng)用。在材料科學(xué)中,它可用于測量納米顆粒、膠體顆粒和粉末顆粒的大小分布。在環(huán)境科學(xué)中,可以通過分析大氣中懸浮顆粒物的粒徑譜,了解其來源和影響。此外,該儀器還可用于藥物研發(fā)、食品工業(yè)、納米技術(shù)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。
 
  3.優(yōu)勢:
  相比其他粒徑測量方法,具有幾個顯著優(yōu)勢。
  它能夠在廣泛的尺寸范圍內(nèi)進(jìn)行測量,從納米級到亞微米級。
 
  該儀器對樣品形態(tài)沒有要求,適用于不同形狀和結(jié)構(gòu)的顆粒。
 
  它具有高精度和高靈敏度,能夠提供可靠的結(jié)果。
 
  重要的是,它是一種非破壞性測量方法,不需要對樣品進(jìn)行處理或破壞。
 
  掃描電遷移率粒徑譜儀是一種強(qiáng)大的工具,可以準(zhǔn)確測量顆粒尺寸分布。它在材料科學(xué)、環(huán)境科學(xué)和其他領(lǐng)域中的應(yīng)用廣泛,并具有多項優(yōu)勢。

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