微機(jī)型毫秒計 大功率繼電保護(hù)測試儀 返回列表頁

HN-S1數(shù)字毫秒計/數(shù)字電秒表 HN-9微電腦數(shù)字毫秒計（可與PC機(jī)通訊）

功能簡介：

智能毫秒計是我公司新研制的新一代毫秒計，是測量繼電保護(hù)裝置動作時間以及其它毫秒計時的理想的計時器。該毫秒計以單片機(jī)為核心實施高準(zhǔn)度毫秒計時。其特點(diǎn)是計時準(zhǔn)度高，計時區(qū)間自動調(diào)整，毫秒表的啟/?？刂品绞蕉喾N多樣（滿足形式的計時要求）?？刂平狱c(diǎn)可有兩種形式（空接點(diǎn)、電位），且可任意組合。還可以測量脈沖的寬度。VOCs檢測技術(shù)的日新月益對VOCs的檢測、監(jiān)控、減排有很大的促進(jìn)作用。本次為您介紹常用的VOCs檢測技術(shù)。實驗室VOCs檢測VOCs實驗室分析發(fā)展較早，也比較成熟。分析方法為使用采樣袋、蘇碼罐、吸附劑或吸收液將VOCs采集回實驗室，再經(jīng)過熱解析、溶劑解析等前處理過程后，利用GC或HPLC分析。實驗室VOCs檢測主要難點(diǎn)在于選擇合適的采樣方法保證可以采集到所有揮發(fā)性有機(jī)污染物，制定規(guī)范的運(yùn)輸方案防止運(yùn)輸過程中VOCs的損失，選擇合適的前處理過程保證所有的揮發(fā)性有機(jī)物進(jìn)入分析儀器。

一、主要特點(diǎn)：

◇ 輸入的啟動信號和停表信號可以是空觸點(diǎn)、帶電觸點(diǎn)，也可以是電位躍變。

◇ 智能性強(qiáng)，技術(shù)*可靠，使用設(shè)置方便直觀。

◇ 5/7位數(shù)顯，有自動量程切換，測試準(zhǔn)度高。

◇ 體積小，重量輕，便于攜帶。NB-IoT隨著物聯(lián)網(wǎng)概念的熱度不斷提升曝光率也日漸增加，經(jīng)過2017年“NB-IoT商用元年"的逐漸發(fā)展完善，如今已成為一種非常成熟產(chǎn)品。那么NB-IoT究竟是何方神圣？他又為何能成為大眾的寵兒？NB-IoT究竟是什么？是“特別牛的物聯(lián)網(wǎng)"（NiubilityInternetofThing）的縮寫嗎？雖然他確實很牛，實際上并非是這樣簡單粗暴的縮寫單詞。NB-IoT是指窄帶物聯(lián)網(wǎng)(NarrowBand-InternetofThings)技術(shù)，是IoT領(lǐng)域一個新興的技術(shù)，支持低功耗設(shè)備在廣域網(wǎng)的蜂窩數(shù)據(jù)連接，也被叫作低功耗廣域網(wǎng)(LPWA)。

二、主要技術(shù)指標(biāo)：

1、測量范圍：0000.001s-9999.999s（根據(jù)客戶需求可改動）

◇時標(biāo)穩(wěn)定度：≤5×10-5晶振頻率（100kHz）

◇觸點(diǎn)允許帶電位及電位輸入：0.5—250VDC

◇ 工作電源電壓： 220v±10% 50hz

◇ 外形尺寸： 285mm×215mm×50mm

◇ 重量：1kg于是，為了進(jìn)一步減小解決方案的尺寸，有許多多輸出IC可供選擇。這些IC通常包括集成的MOS場效應(yīng)晶體管(MOSFET)，同時至少要求配置有外部組件。而且，單就這些IC而言，其成本或許更為昂貴。通過減少生產(chǎn)過程中必須安裝到位的外部組件數(shù)量所獲得的收益，往往會抵消前期付出的高昂成本。采用何種拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)呢?在如所示的實際應(yīng)用中，由于空間的限制，所以LDO將成為我們的。然而，由于功耗和效率的限制，實際情況并非總是如此。

2、測量誤差：≤±5×10-5×量程±1個尾數(shù)字

3、測量方式：八位一體化LED紅色數(shù)碼管

4、功能：連續(xù)性（單）、觸動性（雙）

5、適應(yīng)位號：空觸點(diǎn)：閉合或斷開

電位號：正極性5-250V

6、復(fù)位方式：觸動性：隨測量位號自動復(fù)位

連續(xù)性：手動復(fù)位分工頻耐壓試驗和直流耐壓試驗兩種。工頻耐壓試驗其試驗電壓為被試設(shè)備額定電壓的一倍多至數(shù)倍，不低于1000V。其加壓時間：對于以瓷和液體為主要絕緣的設(shè)備為1分鐘，對于以有機(jī)固體為主要絕緣的設(shè)備為5分鐘，對于電壓互感器為3分鐘，對于油浸電力電纜為10分鐘。電氣設(shè)備經(jīng)耐壓試驗?zāi)軌虬l(fā)現(xiàn)絕緣的局部缺陷、受潮及老化。交流耐壓試驗：在被試設(shè)備電壓的2.5倍及以上進(jìn)行，從介質(zhì)損失的熱擊穿觀點(diǎn)出發(fā)，可以有效地發(fā)現(xiàn)局部游離性缺陷及絕緣老化的弱點(diǎn)。

三、測試功能：

1、一個空觸點(diǎn)閉合作用時間

2、一個空觸點(diǎn)斷開作用時間

3、兩個空觸點(diǎn)閉合的時間差

4、兩個空觸點(diǎn)斷開的時間差

5、一個空觸點(diǎn)閉合與另一個空觸點(diǎn)斷開的時間差

6、一個空觸點(diǎn)斷開與另一個空觸點(diǎn)閉合的時間差

PID（PotentianInducedDegradation）是一種電勢誘導(dǎo)衰減現(xiàn)象，是指組件長期在高電壓下使得玻璃，封裝材料之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池表面。使得電池表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致填充因子（FF），短路電流（Isc），開路電壓（Voc）降低，使得組件的性能低于設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)，發(fā)電能力也隨之下降。2010年，NREL和Solon證實了無論組件采取何種技術(shù)的P型晶硅電池，組件在負(fù)偏壓下都有PID的風(fēng)險。

HN866A微機(jī)繼電保護(hù)測試儀  工控機(jī)型  7U+6I 或 4U+3I

功能簡介：

工控機(jī)型，10英寸真彩大屏幕。電壓電流輸出靈活組合  輸出達(dá)6（3）相電壓6（4）相電流，可任意組合實現(xiàn)常規(guī)4相電壓3相電流型、6相電壓型、6相電流型，以及12相型輸出模式Windows Xp操作系統(tǒng)，面板配有高級不銹鋼鍵盤，軌跡球鼠標(biāo)8.4寸TFT真彩液晶顯示器。