超聲厚度測(cè)量術(shù)語(yǔ)匯編

準(zhǔn)確度：某個(gè)參數(shù)（如厚度）的測(cè)量值與真實(shí)值之間的一致性。

聲阻抗：定義為聲速乘以密度的一種材料屬性。兩種材料之間邊界處的聲波反射量基于聲阻抗的比率得出。

波幅：波幅是指在聲波運(yùn)動(dòng)中物質(zhì)粒子的最大位移。在電子學(xué)中，信號(hào)的大小，通常表示為正電壓或負(fù)電壓。

衰減：聲程上任何兩點(diǎn)之間發(fā)生的聲能損失。

底面回波：從被測(cè)樣件的底面反射的聲波，底面與探頭和被測(cè)樣件耦合接觸的面正好相對(duì)。對(duì)這個(gè)回波的計(jì)時(shí)對(duì)應(yīng)于工件在這個(gè)點(diǎn)上的厚度。

接觸式探頭：接觸式探頭在使用時(shí)與被測(cè)材料直接接觸。

耦合劑：用于探頭和被測(cè)件之間的一種材料，通常是液體或凝膠，目的是消除探頭和被測(cè)樣件之間的空氣并促進(jìn)聲能的耦合。

延遲塊：放置在探頭前面的一種材料（通常是塑料），目的是在激勵(lì)脈沖和來(lái)自被測(cè)樣件表面的回波之間創(chuàng)建時(shí)間延遲。

延遲塊探頭：包含延遲塊的一種探頭。

雙晶探頭：發(fā)射晶片和接收晶片分開(kāi)放置的探頭，常用于腐蝕測(cè)量。

激勵(lì)脈沖：施加到超聲探頭中的壓電晶片上的短暫電脈沖，使晶片振動(dòng)并產(chǎn)生聲波。也戲稱(chēng)為“大爆炸"。

頻率：振蕩體在一定時(shí)間段內(nèi)（通常為一秒）經(jīng)歷的振動(dòng)周期數(shù)。在電學(xué)上，頻率是指周期信號(hào)（例如正弦波）在一定時(shí)間段內(nèi)重復(fù)的速率。

增益：在超聲測(cè)厚儀中，增益是指由放大器產(chǎn)生的信號(hào)強(qiáng)度的增加，通常表示為輸出功率與輸入功率的比率，單位為分貝。

水浸檢測(cè)：通過(guò)水層或水槽將聲能從探頭耦合到被測(cè)材料中的一種檢測(cè)方法。

水浸探頭：用于水浸檢測(cè)的探頭。

界面回波：使用延遲塊或水浸探頭時(shí)，可以觀(guān)察到的從被測(cè)樣件表面反射的回波。

縱波：一種聲波傳播模式，通常用于超聲測(cè)厚，特點(diǎn)是粒子運(yùn)動(dòng)平行于聲波傳播的方向?？陕?tīng)到的聲波也屬于縱波。

測(cè)量模式：在厚度測(cè)量中計(jì)時(shí)回波的方法，通常分為模式1、模式2和模式3。

相位顛倒：聲波正負(fù)峰值位置顛倒的情況。

范圍：使用特定探頭和儀器設(shè)置，可以測(cè)量的材料最大厚度和最小厚度之間的范圍。

分辨率：在厚度測(cè)量中，可以區(qū)分略微不同的厚度或時(shí)間間隔的程度。

聲速：聲波在特定材料中傳播的速度。

聲波：是在固體、液體或氣體介質(zhì)中機(jī)械振動(dòng)的一種連貫?zāi)Ｊ健?/p>

探頭：是將一種形式的能量轉(zhuǎn)換為另一種形式能量的裝置。在超聲檢測(cè)中，通常是指將電能轉(zhuǎn)換為機(jī)械能，或?qū)C(jī)械能轉(zhuǎn)化為電能。

超聲波：指頻率高于人類(lèi)聽(tīng)覺(jué)極限的聲波，一般定義為每秒20000次（20 KHz）。

波形：波列中能量水平的圖形表現(xiàn)，基于波幅與時(shí)間的關(guān)系繪制。

零位偏移：一種校正因子，代表測(cè)厚儀測(cè)到的時(shí)間與聲波在被測(cè)樣件中實(shí)際傳播時(shí)間之間的差異，一般因轉(zhuǎn)換延遲、電纜延遲及防磨板和耦合劑的厚度引起