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HDZK-V真空開關(guān)真空度測(cè)試儀使用方法說明

閱讀:283        發(fā)布時(shí)間:2023-2-28

HDZK-V真空開關(guān)真空度測(cè)試儀用于對(duì)真空管真空度進(jìn)行初步的判斷,測(cè)量鍵用于施加高壓及強(qiáng)電磁場(chǎng)對(duì)真空管真空度進(jìn)行定量測(cè)試。在儀器背板上左邊有一個(gè)高壓輸出端子,可用高壓線連到真空管的一個(gè)觸頭上。離子電流輸入端連接到真空管的另一個(gè)觸頭上。磁場(chǎng)電壓兩輸出端應(yīng)接到勵(lì)磁線圈的兩個(gè)接線端子上。接地端用于儀器外殼的保護(hù)接地。管型輸入拔碼開關(guān)用于輸入滅弧室的管型,滅弧室的管型由滅弧室外直決定,帶外罩的以外罩直徑為準(zhǔn)。

管型選擇:

滅弧室管徑小于80mm為00號(hào)管型

管徑大于80mm小于100mm為02號(hào)管型

管徑大于100mm小于110mm為04號(hào)管型

管徑大于110mm為06號(hào)管型

進(jìn)行檢漏:

測(cè)試真空度前應(yīng)進(jìn)行檢漏。檢漏時(shí)應(yīng)注意真空管外是否擦拭干凈并烘干。若真空管已嚴(yán)重泄露,可不必進(jìn)行真空度定量測(cè)試,若檢漏合格,則再進(jìn)行定量測(cè)試。

進(jìn)行測(cè)試:

按測(cè)試鍵后,測(cè)試儀首先顯示電場(chǎng)電壓與磁場(chǎng)電壓并進(jìn)行自動(dòng)充電過程。當(dāng)兩電壓達(dá)到一定值后,測(cè)試儀自動(dòng)將電場(chǎng)電壓和磁場(chǎng)電壓加到真空管及勵(lì)磁線圈上,同時(shí)自動(dòng)啟動(dòng)測(cè)試分析程序,顯示被測(cè)真空管的測(cè)試結(jié)果并自動(dòng)對(duì)儀器內(nèi)部電容進(jìn)行放電。(顯示結(jié)果:3.26E-4Pa即為3.26×10-4 Pa帕斯卡)

本儀器的最小測(cè)量值為1.06×10-5Pa,如果被測(cè)真空管真空度優(yōu)于此值,顯示結(jié)果仍為1.06×10-5Pa。對(duì)真空斷路器而言,說明真空泡真空度完好,記錄測(cè)試結(jié)果時(shí)可記為<10-5 Pa。如真空度大于6.6×10-2Pa,則該真空泡不合格。

在多次對(duì)同一真空管進(jìn)行測(cè)試時(shí),相鄰兩次的測(cè)量時(shí)間間隔不要少于10分鐘。同時(shí)關(guān)閉儀器電源,將離子電流線夾與高壓輸出端線夾短接,消除殘存高電壓,然后進(jìn)行下次測(cè)試。否則,由于管內(nèi)被電離的空氣來不及恢復(fù)到正常狀態(tài)從而導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果失真。

消弧放電:

按檢漏鍵進(jìn)行檢漏,將磁場(chǎng)電壓降低,動(dòng)作完成后按復(fù)位鍵,然后關(guān)機(jī)。將高壓輸出端大夾子對(duì)地放電,或用放電棒輕碰高壓夾所夾真空管端,或?qū)㈦x子電流夾與高壓端線夾短接,消除殘余高電壓及試驗(yàn)過程中所產(chǎn)生的靜電。

詳細(xì)實(shí)驗(yàn)步驟

1.確保真空斷路器與外界絕緣,實(shí)驗(yàn)時(shí)不產(chǎn)生泄露與反向充電。

具體需處理以下幾個(gè)方面:

兩端的接地;

互感器;

避雷器;

消弧電容

傳感器

2.確保真空斷路器潔凈干燥

3.確保真空斷路器開距(分閘)

4.然后按圖所示懸掛好勵(lì)磁線圈,白刻度線對(duì)準(zhǔn)真空斷路器中間位置,用綁帶綁緊電磁鐵和真空斷路器(實(shí)驗(yàn)時(shí)脈沖電壓會(huì)產(chǎn)生沖擊力,避免造成真空斷路器的損裂)。

5.按測(cè)試線的顏色與插件大小連接線路,高圧大夾夾于離電磁鐵距離遠(yuǎn)一點(diǎn)的真空斷路器一端,黃綠線須先連電磁鐵再連儀器。

6.通過拔碼開關(guān)輸入選擇與真空斷路器相匹配的管型(帶護(hù)套的真空斷路器以護(hù)套的直徑為準(zhǔn))

7.準(zhǔn)備工作做好、檢查連線無(wú)誤后打開電源,按復(fù)位鍵,確保儀器處于初始狀態(tài)。

8.按檢漏鍵進(jìn)行檢漏,對(duì)真空管定質(zhì),看真空斷路器泄露還是合格。

9.按測(cè)量定量,看真空度到底是多少,打印測(cè)試結(jié)果。

(顯示:3.26E-4Pa即為3.26×10-4 Pa帕斯卡)

真空斷路器國(guó)標(biāo):出廠標(biāo)準(zhǔn)小于1.33×10-3 Pa帕斯卡;大于6 .62×10-2 Pa帕斯卡不合格

10.放電:按檢漏降低磁場(chǎng)電壓,關(guān)閉電源,大夾對(duì)地放點(diǎn),單根分別拔出儀器上的黃綠測(cè)試線(手別碰到插件的裸露部分) ,放電完成,其它測(cè)試線可隨意拆卸。

11.裝好配件,試驗(yàn)完成。

真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-2----10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器的特點(diǎn)是采用新型勵(lì)磁線圈及數(shù)據(jù)處理方法,實(shí)現(xiàn)了真空度的不拆卸測(cè)量。本儀器具有使用方便、操作簡(jiǎn)便、不拆卸測(cè)量和測(cè)試精度高等優(yōu)點(diǎn),是一種實(shí)用的檢測(cè)儀器,廣泛適用于電力、鋼鐵、石化、紡織、煤炭、鐵路等使用真空開關(guān)的部門。

注意事項(xiàng)

1.真空度測(cè)試應(yīng)選擇在晴朗干燥的天氣里進(jìn)行,并將真空泡表面擦拭干凈,真空泡表面污穢而導(dǎo)致的泄漏將嚴(yán)重影響真空度的實(shí)際測(cè)試結(jié)果。同一真空開關(guān)的真空度測(cè)試,每次測(cè)試時(shí)間間隔應(yīng)不少于10分鐘。否則,由于管內(nèi)被電離的空氣來不及恢復(fù)到正常狀態(tài)從而導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果失真。

2.對(duì)同一真空開關(guān)的真空度測(cè)試,建議每天不要超過3次。

3.測(cè)試真空度時(shí),應(yīng)先檢漏,檢漏合格后再進(jìn)行定量測(cè)試。

4.紅色夾子所連紅色電纜為高壓電纜,黑色夾子所連黑色電纜為普通電纜。在實(shí)際接線過程中,不可將黑色普通電纜聯(lián)接高壓輸出,以免泄漏嚴(yán)重而造成試驗(yàn)失敗或危及人身與設(shè)備。

5.安裝勵(lì)磁線圈時(shí),其定位指示線指向滅弧室聯(lián)接中縫處。

6.測(cè)試過程中,人體不能接觸高壓和磁場(chǎng)電壓輸出端,測(cè)試儀的外殼應(yīng)接地。

7.高壓輸出線和離子電流線要分開,防止干擾。

8.磁場(chǎng)電壓線,切匆短路,否則嚴(yán)重?fù)p壞儀器及人身安全!實(shí)驗(yàn)前黃綠線須先連電磁鐵再連儀器;試驗(yàn)完后單根分別拔出儀器上的黃綠測(cè)試線(手別碰到插件的裸露部分)。

9.測(cè)試完畢后,應(yīng)關(guān)閉電源,將高壓輸出端對(duì)地短接放電,以免被充電電容上的殘余電壓電擊。

該儀器的測(cè)試原理是:

將滅弧室兩觸頭拉開一定的開距,施加脈沖高壓;將滅弧室置于螺旋線圈內(nèi)或?qū)⑿滦碗姶啪€圈置于滅弧室外側(cè),向線圈施加磁場(chǎng)電壓,從而在滅弧室內(nèi)產(chǎn)生與高壓同步的脈沖磁場(chǎng)。這樣在脈沖磁場(chǎng)和強(qiáng)電場(chǎng)的作用下,滅弧室中的電子作螺旋運(yùn)動(dòng),并與殘余氣體分子發(fā)生碰撞電離,所產(chǎn)生的離子電流與殘余氣體的密度(即真空度值)成比例關(guān)系。對(duì)于不同型號(hào)的真空管(管型),由于其結(jié)構(gòu)不同,在同等觸頭開距、同等真空度、同等電場(chǎng)與磁場(chǎng)的條件下,離子電流的大小也不相同。通過實(shí)驗(yàn)可以標(biāo)定各種管型的真空度與離子電源間的對(duì)應(yīng)關(guān)系曲線。當(dāng)測(cè)知離子電流后,就可以通過查詢?cè)摴苄偷碾x子電流-真空度曲線而獲得該管型的真空度。測(cè)試電路示意圖如圖1所示。

圖1 滅弧室真空度磁控度放電法測(cè)試電路

在常規(guī)磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度時(shí),為了提高測(cè)試靈敏度,需從斷路器上卸下滅弧室,并置于螺旋管線圈內(nèi)。這樣一來,滅弧室重新裝回?cái)嗦菲餮b置上時(shí)需要重新調(diào)整機(jī)械參數(shù),工作量很大且需專業(yè)人士。使用新型磁線圈可以從側(cè)面包圍滅弧室,這樣就不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用單片微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,提高了滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度。


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