紫外分光光譜儀

單單色儀UV-2600i近紅外檢測

通過配置ISR-2600雙檢測器積分球，將傳統(tǒng)儀器模式下的300 nm ～ 1100 nm波長范圍擴展至1400nm。因此，UV-2600i可進行太陽能電池防反射膜和多晶硅硅片的測量。

使用ISR-2600Plus測定多晶硅片的透過率

此圖是多晶硅樣品的透過率譜圖，由于系統(tǒng)具有測定到1400nm的能力，清晰顯示了帶隙區(qū)域（1000nm附近）的透過率特征。

使用ISR-2600Plus積分球測定減反射膜的相對漫反射率

此圖是減反膜的反射率譜圖。使用相對反射附件，系統(tǒng)可以實現(xiàn)從深紫外到近紅外區(qū)域的測定，可清晰顯示在可見區(qū)被控制的反射率。

UV-2700i雙單色儀可進行8Abs檢測

UV-2700i實現(xiàn)了超低雜散光，擴展測定范圍至8Abs，透過率0.000001%。除了測定高濃度樣品不需要稀釋外，此系統(tǒng)還能用于評價偏振膜的透過率性能。

高錳酸鉀溶液濃度和吸光度的線性曲線。直到8Abs都有好的線性。

高錳酸鉀水溶液的光譜比較

此圖是高錳酸鉀水溶液的UV-2700i測試光譜圖，此系統(tǒng)具有高水平吸光度測定能力。

使用島津技術(shù)的Lo-Ray-Ligh等級衍射光柵使UV-2700i具有高的精度。在衍射光柵生產(chǎn)過程中，新的生產(chǎn)方法應(yīng)用到島津全息光柵技術(shù)上。通過優(yōu)化蝕刻工藝，在保持高效率的同時，我們成功生產(chǎn)出超低雜散光的衍射光柵。在使用配備Lo-Ray-Ligh等級衍射光柵的更佳的光學(xué)系統(tǒng)，UV-2700i達到了超低雜散光水平。

設(shè)計更緊湊，使用更便捷，尺寸縮小，能耗降低

由于應(yīng)用了新型設(shè)計理念，與傳統(tǒng)的儀器機型相比，此儀器的安裝空間縮小了28%。除此之外，用于散熱的風(fēng)扇放置于單獨空間。通過放置在相關(guān)的，有效利用有限的光學(xué)空間。另外，能耗降低至170，節(jié)能10%，使系統(tǒng)更環(huán)保。

硬件確認軟件標配以支持GLP/GMP

硬件確認軟件可協(xié)助進行裝置性能的檢查，并記錄檢查結(jié)果。之前作為選配的硬件確認軟件已標配于UV-2600i/2700i主機,因此在日常檢查或注重數(shù)據(jù)精度時可容易地進行儀器性能檢測。

可使用JIS K0115“分子吸收分析通用規(guī)則"中的性能檢測標準品進行儀器性能的檢查，也可以使用日本藥典通用測定方法或EP和USP檢查方法。（需要單獨準備檢查工具和試劑）

多功能，用戶友好界面LabSolutions UV-Vis軟件

LabSolutions UV-Vis軟件具有自動光譜評價、自動Excel數(shù)據(jù)傳輸、自動樣品測試等功能，可升級為DB或者CS版實現(xiàn)更強大的數(shù)據(jù)管理，確保數(shù)據(jù)完整性和可信度。

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