科研級微分干涉金相顯微鏡WYJ-52DIC配有大范圍移動的載物臺、采用優(yōu)良的無限遠光學系統(tǒng)與多功能、模塊化的設計理念，帶有偏光裝置、微分干涉裝置，可實現(xiàn)偏光觀察、微分干涉觀察等功能。緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，充分體現(xiàn)了顯微鏡操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結構分析和研究，或用于TFT液晶顯示屏導電粒子分析研究。是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學、半導體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產業(yè)等觀察研究的理想儀器?？偡糯蟊稊?shù)：50-800X。

◆科研級微分干涉顯微鏡產品特點：
1、采用了先進的無限遠光路設計，提供光學系統(tǒng)。
2、采用大視野目鏡和無限遠長距平場物鏡，視場平坦,成像清晰。
4、整機采用了防霉處理，保護了鏡頭，延長了儀器的使用壽命。
5、兩路光路自由切換輸出，一路用于觀察，一路連接攝像裝置。
6、配有大范圍移動的移動載物臺，適合對大型工件觀察和研究。

◆典型應用：
1、電子工業(yè)制造業(yè)對硅片、電路基板、FPD、PCB板、芯片檢驗，
2、觀察材料表面的某些特性，3、分析金屬、礦相內部結構組織。

一、顯微鏡參數(shù)：

二、目鏡參數(shù)：

三、物鏡參數(shù)：