三目正置金相顯微鏡WYJ-56XA采用優(yōu)良的無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計(jì)理念，可以方便升級(jí)系統(tǒng)，可選配暗場(chǎng)裝置和微分干涉裝置，輕易實(shí)現(xiàn)暗場(chǎng)觀(guān)察、DIC微分干涉觀(guān)察等功能。導(dǎo)柱升降裝置，可以快速調(diào)整工作臺(tái)與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件表面的金相組織結(jié)構(gòu)與工件表面質(zhì)量進(jìn)行顯微觀(guān)察，主要用于精密零件，集成電路，包裝材料等產(chǎn)品檢測(cè)?？偡糯蟊稊?shù)：50X-600X。

◆性能特點(diǎn)：

1、立柱高度可調(diào)，尤其適合不同高度的大工件金相組織級(jí)表面觀(guān)察。

2、采用了先進(jìn)的無(wú)限遠(yuǎn)光路設(shè)計(jì)，提供了好的光學(xué)系統(tǒng)。

3、無(wú)限遠(yuǎn)長(zhǎng)工作距平場(chǎng)物鏡和大視野平場(chǎng)目鏡，視場(chǎng)寬闊平坦清晰。

4、配置了落射與透射兩套照明系統(tǒng)，可觀(guān)察透明試樣與不透明試樣。

5、配置了內(nèi)置推拉式檢偏器與起偏器，適合觀(guān)察高反光材料的表面。

6、整機(jī)采用了防霉處理，有效保護(hù)了鏡頭，延長(zhǎng)了儀器的使用壽命。。

◆典型應(yīng)用：

1、分析金屬、礦相內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織。2、電子廠(chǎng)PCB板、芯片檢驗(yàn)。3、觀(guān)察材料表面的某些特性， 如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性。