納米粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器，具有操作簡便、測試快捷、高分辨、高重復及測試準確等特點，是納米顆粒粒度測試的產品。CPS納米粒度儀有別于傳統(tǒng)方法，通過差示離心沉降原理為顆粒的精細區(qū)分提供新的解決方案。有效地結合了高速離心沉降和激光法的優(yōu)點，使得整個儀器能夠達到較高的分辨率，優(yōu)良的靈敏度和重復性。
CPS納米粒度儀同激光散射和顆粒計數法等方法比較，該方法有非常高的分辨率。對于只有1%的顆粒差異分布的時候，該方法測定的結果仍然有好的分離效果。您能看到的是顆粒分布本身，而不是分布顆粒的混合圖。儀器的分辨率如此高，得到的顆粒分布幾乎不受儀器的影響，測量終得到的是真實、可靠的顆粒分布。
和傳統(tǒng)沉降法比較，更快的分析時間。速度的優(yōu)勢是基于更快的圓盤轉速以及更快的儀器檢測器響應。采用多階速度，分析速度可以小于通常情況下的1/20。
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