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了解粒度測量儀的測量原理

閱讀：562 發(fā)布時間：2023-5-30

　　粒度測量儀是測試粉體樣品中各種大小的顆粒占顆?？倲?shù)的比例的設(shè)備。當(dāng)樣品中所有顆粒的真密度相同時，顆粒的重量分布和體積分布一致。在沒有特別說明時，儀器給出的粒度分布一般指重量或體積分布。具有測量速度快、動態(tài)范圍大、操作簡便、重復(fù)性好等優(yōu)點(diǎn)。本公司提供的EyeTech粒度測量儀的測量原理：

　　粒徑分析 (PSA)：該設(shè)備采用有名的激光遮擋法(LOT)。這是一種針對旋轉(zhuǎn)的激光光束遮擋時間的粒徑分析技術(shù)。樣品中顆粒被聚焦的He-Ne 激光掃描，該激光采用楔形棱鏡，以200Hz的速度旋轉(zhuǎn)。在角速度已知的情況下，每一顆粒的直徑都可以用遮擋信號的持續(xù)時間來計算。這免除了其它分析技術(shù)所需的對檢測器靈敏度進(jìn)行校正的必要性。顆粒粒徑是直接測出來的，而不是通過粒徑的二級特點(diǎn)推算出來的。不受折射率指數(shù)、粘度變化、布朗運(yùn)動、熱傳導(dǎo)和其它物理現(xiàn)象的影響。

　　動態(tài)粒形分析 (DSC)采用樣品的原位圖像來分析粒形特征。收集顆粒數(shù)字圖像并分析大量形狀參數(shù)。動態(tài)顯微鏡同步頻閃光在顆粒在動態(tài)流動過程中，可以連續(xù)捕捉“靜止”圖片。這樣就不必停止液體流動和限制對靜止物體的監(jiān)測。大量圖片被放大、處理和自動分析，確保結(jié)果具有充分的代表性。圖像和統(tǒng)計數(shù)據(jù)都可以打印或儲存，作為樣品記錄。

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