這種原理有以下幾點(diǎn)優(yōu)勢(shì)：

CPS高精度納米粒度儀的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

CPS納米粒度分析儀分辨率很高，它有效地結(jié)合了高速離心沉降(ZG24000轉(zhuǎn)/分)和激光法的優(yōu)點(diǎn)，使得整個(gè)儀器能夠達(dá)到*的分辨率，優(yōu)良的靈敏度和重復(fù)性.

CPS高精度納米粒度分析儀同激光散射和顆粒計(jì)數(shù)法比較，該方法有非常高的分辨率，能夠輕松鑒別雜質(zhì)顆粒，污染顆?；蛘咄鈦?lái)顆粒。半峰寬為峰值粒度 1%，也就是說(shuō)對(duì)于峰值差異只有1%的相鄰粒度兩個(gè)粒度峰，該儀器都可以有效地檢測(cè)并區(qū)分開(kāi)來(lái)。儀器的分辨率如此高，得到的顆粒分布幾乎不受儀器的影響，測(cè)量終得到的是真實(shí)、可靠的顆粒分布。

CPS高精度納米粒度分析儀和傳統(tǒng)沉降法比較，更快的分析時(shí)間。速度的優(yōu)勢(shì)是基于更快的圓盤(pán)轉(zhuǎn)速以及更快的儀器檢測(cè)器響應(yīng)。采用多階速度，分析速度可以小于通常情況下的1/20。