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| 供貨周期 | 一個(gè)月 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,能源 |
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符合 IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)
執(zhí)行以下測試：
掃描路徑完整性測試
連接測試
上電短路
互連測試
總線測試
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
湖南艾克賽普科技有限公司是一家專注于儀器工控設(shè)備、測試方案系統(tǒng)集成的高新技術(shù)科技企業(yè)。作為專業(yè)的儀器設(shè)備及測控集成ATE提供商，多年來堅(jiān)持自主研發(fā)創(chuàng)新，結(jié)合引進(jìn)代理各大的優(yōu)質(zhì)儀器設(shè)備，致力于提供更科學(xué)智能的軟硬件測試方案，廣泛應(yīng)用于科研行業(yè)、生命科學(xué)、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、化工、材料、環(huán)境、地質(zhì)、能源、藥物、刑事偵查和其他相關(guān)領(lǐng)域。
如有需求請致電，我們將為您提供優(yōu)質(zhì)的測試方案。
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是德keysight IEEE 1149.1 邊界掃描方案-IEEE 1149.1 InterconnectPlus
主要特性與技術(shù)指標(biāo)
- 符合 IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)
- 執(zhí)行以下測試：
掃描路徑完整性測試
連接測試
上電短路
互連測試
總線測試
描述
IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)在 1990 年獲得電氣電子工程師協(xié)會（IEEE）批準(zhǔn)，使您無需了解器件的核心邏輯功能便可對器件進(jìn)行測試。這主要是通過將一連串寄存器串聯(lián)使用而實(shí)現(xiàn)，每個(gè)寄存器都與器件的一個(gè)引腳相關(guān)聯(lián)。這個(gè)邊界寄存器位于器件的核心邏輯單元和通向器件封裝外部的引腳之間。邊界寄存器的這些特性由 TAP 控制器控制，而整個(gè)體系結(jié)構(gòu)全部是在器件中的芯片內(nèi)部實(shí)現(xiàn)的。（圖 1）
通過連接兩個(gè)或兩個(gè)以上有邊界掃描功能的器件（圖 2），可形成一個(gè)互連節(jié)點(diǎn)。在制造業(yè)中，測試主要用于發(fā)現(xiàn)短路和開路缺陷，而且這是通過測試 IC 間互連節(jié)點(diǎn)比特的特定順序來實(shí)現(xiàn)的。利用特殊的輸入模式的類型（一種特定模式），通過對相應(yīng)輸出的判別，可以確定缺陷的種類和位置。
邊界寄存器可以驅(qū)動和接收信號，因此無需互連節(jié)點(diǎn)的物理測試接入。
在 Keysight ICT 系統(tǒng)中實(shí)施 IEEE 1149.1 意味著能夠根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)自動執(zhí)行測試。更大的好處是非邊界掃描節(jié)點(diǎn)可與邊界掃描節(jié)點(diǎn)串聯(lián)在一起進(jìn)行測試，從而提高測試覆蓋范圍。由于這個(gè)“在 ICT 本地”的實(shí)施，可以為用戶提供更高效的解決方案。
是德keysight IEEE 1149.1 邊界掃描方案-IEEE 1149.1 InterconnectPlus