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是德keysight IEEE 1149.6 邊界掃描方案

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更新時(shí)間:2024-02-18 18:21:22瀏覽次數(shù):994

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供貨周期 一個(gè)月 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,能源
是德keysight IEEE 1149.6 邊界掃描方案
符合 IEEE 1149.1、1149.6 標(biāo)準(zhǔn)
執(zhí)行以下測(cè)試:
- 掃描路徑完整性測(cè)試
- 連接測(cè)試
- 電源短路
- 互連測(cè)試
- 總線測(cè)試
- 短路電容測(cè)試

詳細(xì)介紹

湖南艾克賽普科技有限公司是一家專注于儀器工控設(shè)備、測(cè)試方案系統(tǒng)集成的高新技術(shù)科技企業(yè)。作為專業(yè)的儀器設(shè)備及測(cè)控集成ATE提供商,多年來(lái)堅(jiān)持自主研發(fā)創(chuàng)新,結(jié)合引進(jìn)代理各大的優(yōu)質(zhì)儀器設(shè)備,致力于提供更科學(xué)智能的軟硬件測(cè)試方案,廣泛應(yīng)用于科研行業(yè)、生命科學(xué)、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、化工、材料、環(huán)境、地質(zhì)、能源、藥物、刑事偵查和其他相關(guān)領(lǐng)域。

如有需求請(qǐng)致電,我們將為您提供優(yōu)質(zhì)的測(cè)試方案。
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是德keysight IEEE 1149.6 邊界掃描方案

 

主要特性與技術(shù)指標(biāo)

  • 符合 IEEE 1149.1、1149.6 標(biāo)準(zhǔn)
  • 執(zhí)行以下測(cè)試:
    - 掃描路徑完整性測(cè)試
    - 連接測(cè)試
    - 電源短路
    - 互連測(cè)試
    - 總線測(cè)試
    - 短路電容測(cè)試

描述

電氣電子工程師協(xié)會(huì)(IEEE)發(fā)布了針對(duì)交流耦合信號(hào)的 IEEE 1149.6 標(biāo)準(zhǔn)。概括地說(shuō),IEEE 1149.1 對(duì)于直流信號(hào)的意義等同于 IEEE 1149.6 對(duì)于交流耦合信號(hào)的意義。這種類型的信號(hào)通常由驅(qū)動(dòng)器和接收機(jī)之間的耦合電容來(lái)表示。

IEEE-1149-6

更大的好處是非邊界掃描節(jié)點(diǎn)可與邊界掃描節(jié)點(diǎn)串聯(lián)在一起進(jìn)行測(cè)試,從而提高測(cè)試覆蓋范圍。由于這個(gè)“在 ICT 本地”的實(shí)施,可以為用戶提供更高效的解決方案。

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