經(jīng)濟(jì)型涂層測(cè)厚儀 返回列表頁

QNix4500EB 經(jīng)濟(jì)型涂層測(cè)厚儀是一款性能優(yōu)良、操作簡(jiǎn)便且經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的涂層測(cè)厚儀器，以下是其詳細(xì)介紹：

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 雙用探頭：采用 Fe/NFe 兩用探頭，可對(duì)磁性基體和非磁性基體上的涂層進(jìn)行測(cè)量，應(yīng)用范圍廣，能滿足多種測(cè)量需求。

• 操作便捷：只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)，減少了操作步驟和校準(zhǔn)帶來的誤差。自動(dòng)開關(guān)機(jī)，使用方便，節(jié)省電量。測(cè)量時(shí)聲音同步，給予用戶操作反饋。

• 精度較高：在 0-50μm 測(cè)量范圍內(nèi)，誤差≤±1μm；50-1000μm 時(shí)，誤差≤±1.5% 讀數(shù)；1000-3000μm 時(shí)，誤差≤±3% 讀數(shù)，可確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。

• 探頭耐用：配備紅寶石固定式探頭，堅(jiān)固耐磨，不易損壞，能有效保護(hù)測(cè)量表面，確保測(cè)量的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性，同時(shí)也降低了探頭的更換成本。

• 自動(dòng)識(shí)別基體：具有自動(dòng)識(shí)別測(cè)量基體功能，可自動(dòng)判斷并切換測(cè)量模式，方便快捷，減少了因基體類型判斷錯(cuò)誤而導(dǎo)致的測(cè)量誤差。

技術(shù)參數(shù)

• 測(cè)量范圍：Fe:0-3000μm、NFe:0-3000μm。

• 顯示精度：0-999μm 時(shí)為 1μm，1000μm 以上為 0.01mm。

• 最小接觸面：Fe:10×10mm、NFe:6×6mm。

• 最小曲率半徑：凸半徑 5mm、凹半徑 25mm。

• 最小基體厚度：Fe:0.2mm、NFe:0.05mm。

• 溫度補(bǔ)償范圍：0-50℃；工作溫度范圍 - 10℃-60℃。

• 顯示：LCD 液晶數(shù)字顯示，帶背光，在不同光照條件下都能清晰讀數(shù)。

• 電源：2 節(jié) 1.5V 干電池，供電方便，易于更換。

• 尺寸：100×60×27mm，小巧便攜，方便攜帶至不同的測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)。

• 重量：約 105g，長(zhǎng)時(shí)間使用不易產(chǎn)生疲勞。

應(yīng)用領(lǐng)域