CTP10 - 無源光器件測試平臺 返回列表頁

迅速對IL、RL或PDL進行波長掃描測量 采用*電子技術(shù)，只需一次掃描便可以實現(xiàn)整個 動態(tài)范圍內(nèi)的IL鑒定，是測試頻譜對比度高的器件的 理想工具 可安裝多達10個熱插拔模塊，以提供50個光輸出端 口，甚至通過菊花鏈連接提供100+個光輸出端口來測 試器件 配備強大、直觀的圖形用戶界面（GUI），便于配置測 試和分析測量結(jié)果 支持全波段IL、RL和PDL測量，覆蓋從1240 nm到1680 nm 的波長 提供激光器共享功能，在多8個測試臺間共享一個或 多個激光器

CTP10是一種模塊化測量平臺，可高效地測試全天候運行的無源器件。該平臺可直接控制一臺或多臺T100S-HP激光器，在幾秒 內(nèi)實現(xiàn)高分辨率頻譜鑒定。一臺CTP10可為IL、RL或PDL測量提供波長掃描、數(shù)據(jù)收集與處理、以及曲線顯示與分析功能，從 而成為一款非常誘人、易于使用的無源器件測試解決方案。它能夠以高達80 dB的動態(tài)范圍、非常高的速度與分辨率，通過 一次掃描便完成插損測量。該平臺可連接多達50個檢測器，成為測試DWDM網(wǎng)中所用大端口數(shù)器件以及光子集成電路（PIC） 的理想儀表。 它運行操作系統(tǒng)幾乎消除了由數(shù)據(jù)傳輸而導(dǎo)致的任何停機時間。它還配備一個 大容量內(nèi)置硬盤，用于直接存儲數(shù)據(jù)和通過兼容SCPI的命令進行全遠程控制。