CT440/440-PDL - 無(wú)源元器件測(cè)試儀 返回列表頁(yè)

CT440/440-PDL - 無(wú)源元器件測(cè)試儀

緊湊的測(cè)試儀，用于快速、準(zhǔn)確地鑒定無(wú)源光元器件

主要優(yōu)點(diǎn)

快速測(cè)量變化函數(shù)
波長(zhǎng)范圍為1240-1680 nm（SMF型號(hào)）
PM和PDL選件
波長(zhǎng)分辨率為1-250 pm
波長(zhǎng)精度為±5 pm
單次掃描的動(dòng)態(tài)范圍為65 dB
多可結(jié)合4個(gè)可調(diào)諧激光器（SMF型號(hào)）
配備四個(gè)內(nèi)部檢測(cè)器，可通過(guò)同步進(jìn)行擴(kuò)展

EXFO s緊湊型CT440讓您快速準(zhǔn)確地測(cè)試無(wú)源光學(xué)組件(如MUX/DEMUX，濾波器，分配器)和模塊(ROADM, WSS)。
更重要的是，該裝置覆蓋了從1240到1680 nm的光譜范圍，允許在整個(gè)電信波段進(jìn)行測(cè)量。
通過(guò)PDL選項(xiàng)，CT440可以同時(shí)測(cè)量插入損耗和偏振相關(guān)損耗。