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PDL測(cè)試儀能在30 ms內(nèi)，同時(shí)測(cè)量待測(cè)器件的偏振相關(guān)損耗（PDL），插入損耗（IL）和光功率。使用擾偏法測(cè)量的PDL具有很高的不確定性。與這種方法不同，PolaCHEXTM有條理地搜索最大和最小透過(guò)率，確保了具有較高和較低PDL值的器件在任何時(shí)刻的測(cè)量精度，可獲得精確的PDL值。

PDL測(cè)試儀能在30 ms內(nèi)，同時(shí)測(cè)量待測(cè)器件的偏振相關(guān)損耗（PDL），插入損耗（IL）和光功率。使用擾偏法測(cè)量的PDL具有很高的不確定性。與這種方法不同，PolaCHEXTM有條理地搜索透過(guò)率，確保了具有較高和較低PDL值的器件在任何時(shí)刻的測(cè)量精度，可獲得精確的PDL值。PolaCHEX覆蓋了較寬的波長(zhǎng)范圍：1260~1650 nm，無(wú)需波長(zhǎng)校準(zhǔn)，比基于Mueller矩陣方法測(cè)得的PDL值更準(zhǔn)確。它帶有USB、以太網(wǎng)、GPIB和RS-232接口，用于電腦控制。能快速、精確測(cè)量與波長(zhǎng)相關(guān)的無(wú)源器件的特性，尤其適用于制造或?qū)嶒?yàn)室中DWDM、光纖傳感元件。與PDL-101相比，PDL-201具有較快的測(cè)量速度，較大的測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍，更明亮的顯示屏，以及用于集成的附加模擬輸出端口。

主要技術(shù)參數(shù)：

波長(zhǎng)：	1260-1620 nm
分辨率	0.01 dB
PDL 精確度1,2,3	±(0.01 + 5% of PDL) (dB)
PDL 重復(fù)性1	±(0.005 + 2% of PDL) (dB)
PDL 動(dòng)態(tài)范圍4	0 to 45 dB
IL 精確度1,2,3	±(0.01 + 5% of IL) (dB)
IL 重復(fù)性1	±(0.005 dB + 2% of IL) (dB)
IL 動(dòng)態(tài)范圍4	0 to 45 dB
輸入光功率	-40 to 6 dBm
光功率精度	±0.25 dB
波長(zhǎng)校準(zhǔn)( 功率測(cè)量)	1260-1360 nm ； 1440-1620 nm
測(cè)量速度	30 ms/次 (input >-30 dBm)
操作溫度	0 to 50℃
存儲(chǔ)溫度	-20 to 70℃
光連接器類型	光源、 DUT 輸入：APC
DUT輸出	自由空間適配器
模擬輸出	0-4V PDL監(jiān)控電壓 (用戶自定義PDL范圍) (0-3.5V PDL線性變化, 4V 指示低功率)
電源供應(yīng)	100–240VAC, 50–60Hz
通訊接口	USB, Ethernet, RS-232, and GPIB
尺寸	2U, 19" 半架寬度 3.5" (H) × 8.5" (W) × 14" (L)

備注:數(shù)據(jù)在23±5°C溫度下，10組平均值所得。精確的偏振相關(guān)損耗測(cè)試還取決于測(cè)試設(shè)置。輸入功率 ≥0 dBm，用戶自定義功率計(jì)測(cè)量模式。

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