產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)

光電常用設(shè)備: 驅(qū)動(dòng)器 EXALOS Innolume IntraAction optilab fiberlabs Femetochrome YOKOGAWA alnair-日本光時(shí)域反射儀誤碼率分析儀科研相機(jī) 積分球及測(cè)量系統(tǒng) 偏振分析儀自相關(guān)儀光放大器數(shù)據(jù)采集模塊光譜儀模塊分析儀模塊光學(xué)監(jiān)測(cè) 濾波器波長(zhǎng)計(jì) 光譜分析儀

激光器及系統(tǒng): 激光器氦氖激光器 amonics 飛秒激光器光頻梳激光器溫控及驅(qū)動(dòng) THz系統(tǒng) 微加工激光器窄線寬激光器氣體激光器半導(dǎo)體激光器固體激光器飛秒激光加工系統(tǒng) 光纖激光器量子級(jí)聯(lián)激光器可調(diào)諧激光器

光譜影像: CCD相機(jī) 晶體定向儀光譜儀

高速光開(kāi)關(guān): 光學(xué)快門(mén) 磁光開(kāi)關(guān) MEMS光開(kāi)關(guān) 納秒光開(kāi)關(guān)

高速光通信: 光濾波器光發(fā)射機(jī) 光延遲線偏振控制器 exfo電信測(cè)試

調(diào)制器: ixblue eospace 調(diào)制器驅(qū)動(dòng) 聲光調(diào)制器強(qiáng)度調(diào)制器電光調(diào)制器空間光調(diào)制器相位調(diào)制器

探測(cè)器: 光電探測(cè)器陣列空間光電探測(cè)器單光子瞬態(tài)計(jì)數(shù)器平衡光電探測(cè)器光電探測(cè)器

光無(wú)源器件: 光纖準(zhǔn)直器光環(huán)形器光隔離器光衰減器

光學(xué)鏡片元件: 凹面鏡光束器分束鏡棱鏡柱透鏡偏光鏡偏振片濾光片場(chǎng)鏡擴(kuò)束鏡鍍膜 CVI光學(xué)元件反射鏡

光纖傳感設(shè)備: 特種光纖光纖傳感解調(diào)模塊

電力仿真

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介詳細(xì)介紹

聲光偏轉(zhuǎn)器可以用來(lái)掃描激光束。這是通過(guò)改變射頻驅(qū)動(dòng)頻率實(shí)現(xiàn)的。隨機(jī)位置、連續(xù)線掃描和順序點(diǎn)偏移都是可能的。根據(jù)晶體、波長(zhǎng)和光束大小，可以獲得超過(guò)250KHz的掃描速率。

聲光偏轉(zhuǎn)器可以用來(lái)掃描激光束。這是通過(guò)改變射頻驅(qū)動(dòng)頻率實(shí)現(xiàn)的。隨機(jī)位置、連續(xù)線掃描和順序點(diǎn)偏移都是可能的。根據(jù)晶體、波長(zhǎng)和光束大小，可以獲得超過(guò)250KHz的掃描速率。

最佳效率要求輸入激光束設(shè)置在布拉格角，這是驅(qū)動(dòng)頻率的函數(shù)。當(dāng)掃掠掃描激光束時(shí)，由于AOD只能在一個(gè)驅(qū)動(dòng)頻率下進(jìn)行光學(xué)對(duì)準(zhǔn)，因此會(huì)產(chǎn)生布拉格角失配。一般來(lái)說(shuō)，這將根據(jù)掃描范圍降低效率。可以使用以下幾種技術(shù)來(lái)盡量減少這種影響:

離軸聲光偏轉(zhuǎn)器(OAD)利用雙折射晶體的非線性特性，將布拉格角頻率靈敏度降到很低。

電子束引導(dǎo)聲光偏轉(zhuǎn)器(“-BS")根據(jù)射頻驅(qū)動(dòng)頻率對(duì)晶體內(nèi)的聲柱進(jìn)行電子引導(dǎo)。這就要求換能器上的相控陣電極是具有2或4個(gè)射頻輸入。

Deflectors UV - Blue

Model	A/R Coating	Material	Rayleigh Res'n 1 2	Aperture (mm)	Sweep BW (MHz)	Center Freq. (MHz)	Suggested Driver	Feature
D1155-T75S	405nm	TeO2 (S)	140	9	10	75	Here
1206C-2-1002	NUV, VIS	TeO2	100	2 x 9	50	110	Here
D1340-aQ120-5	UV	Quartz	25	5	30	120	iMS4 RFA0120-2-15
D1384-aQ120-9	UV	Quartz	60	9	40	120	iMS4 RFA0120-2-15
D1340-XY-aQ120-5	UV	Quartz	25 x 25	5 x 5	30	120	iMS4 RFA0120-4-15
D1384-XY-aQ120-9	UV	Quartz	60 x 60	9 x 9	40	120	iMS4 RFA0120-4-15

Deflectors Blue - Red

Model	A/R Coating	Material	Rayleigh Res'n 1 2	Aperture (mm)	Sweep BW (MHz)	Center Freq. (MHz)	Suggested Driver	Feature
1205C-2-804B	VIS	PbMoO4	66	2 x 6	30	80	Here
LS55-V	VIS	TeO2 (S)	450	2 x 7	40	80	Here
LS110A-VIS	VIS	TeO2 (S)	1100	4 x 14	50	100	Here
LS110A-VIS-XY	VIS	TeO2 (S)	750x750	9 x 9	50	100	Here	Dual Axis
OAD948	488nm	TeO2 (S)	600	3 x 8	50	100	Here
OAD1020	532nm	TeO2 (S)	600	2 x 8	50	100	Here
1206C-2-1002	NUV, VIS	TeO2	77	2 x 8	50	110	Here
OPP834	VIS	PbMoO4	520	0.7 x 19	100	200	Here
1250C-BS-960A	VIS	PbMoO4	160	1.5 x 6	120	190	Here
D1365-aQ180	532nm	Quartz	60	3 x 6	60	180	RFA5180-4
D1384-aQ110-7	515nm	Quartz	25	7	30	110	iMS4 RFA0110-2-20
D1384-XY-aQ110-7	515nm	Quartz	25 x 25	7 x 7	30	110	RFA333-2 RFA0110-4-20

Deflectors - Near IR

Model	A/R Coating	Material	Rayleigh Res'n 1 2	Aperture (mm)	Sweep BW (MHz)	Center Freq. (MHz)	Driver	Feature
OAD1550-XY	1550nm	TeO2 (S)	200 x 200	7 x 7	20	40	Here
LS110A-NIR	NIR	TeO2 (S)	550	4 x 14	25	50	Here
LS110A-NIR-XY	NIR	TeO2 (S)	240 x 240	6 x 6	25	50	Here
1205C-x-804B	NIR	PbMoO4	66	2 x 6	40	80	Here
OAD1343-XY	<820	TeO2 (S)	400 X 400	9 X 9	30	70	Here
OAD1344-XY	>830	TeO2 (S)	400 X 400	9 X 9	30	70	Here
LS55-NIR	NIR	TeO2 (S)	450	2 x 7	40	80	Here
D1312-T80L	NIR	TeO2	40	6	30	80	Here
D1086-T110L	NIR	TeO2	95	3 x 8	50	110	Here	Conduction cooled
D1135-T110L	NIR	TeO2	95	3 x 8	50	110	Here
1250-BS-926	NIR	PbMoO4	60	0.5 x 3	70	145	Here
1250C-2BS-943A	NIR	PbMoO4	190	2 x 6	120	185	Here

Deflectors Mid IR - IR

Model	A/R Coating	Material	Rayleigh Res'n 1 2	Aperture (mm)	Sweep Bandwidth (MHz)	Center Freq. (MHz)	Suggested Driver
1209-7BS-986	IR	Ge	50	7 x 14	20	40	Here
D1315-G50-H	IR	Ge	70	7 x 20	20	50	Here
AOD650-H	IR	Ge	100	7 x 30	20	50	Here
D1199-G50	IR	Ge	100	7 x 20	20	50	Here
D1208-XY-50-3	IR	Ge	10 x 10	3 x 3	40	70	Here
LS700-1011	IR	Ge	436	10 x 60	40	70	Here

Deflectors UV - Blue

Deflectors Blue - Red

Deflectors - Near IR

Deflectors Mid IR - IR

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