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CT440/440-PDL - 無源元器件測試儀
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更新時(shí)間:2024-08-25 21:00:07

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CT440/440-PDL - 無源元器件測試儀
緊湊的測試儀,用于快速、準(zhǔn)確地鑒定無源光元器件

CT440/440-PDL - 無源元器件測試儀

緊湊的測試儀,用于快速、準(zhǔn)確地鑒定無源光元器件

主要優(yōu)點(diǎn)

快速測量變化函數(shù)
波長范圍為1240-1680 nm(SMF型號)
PM和PDL選件
波長分辨率為1-250 pm
波長精度為±5 pm
單次掃描的動(dòng)態(tài)范圍為65 dB
多可結(jié)合4個(gè)可調(diào)諧激光器(SMF型號)
配備四個(gè)內(nèi)部檢測器,可通過同步進(jìn)行擴(kuò)展

EXFO s緊湊型CT440讓您快速準(zhǔn)確地測試無源光學(xué)組件(如MUX/DEMUX,濾波器,分配器)和模塊(ROADM, WSS)。
更重要的是,該裝置覆蓋了從1240到1680 nm的光譜范圍,允許在整個(gè)電信波段進(jìn)行測量。
通過PDL選項(xiàng),CT440可以同時(shí)測量插入損耗和偏振相關(guān)損耗。


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