產(chǎn)品特點：

實時晶體定向分析

角度精度可達0.2度（需求可達0.02度）

完整解決方案，包括X射線發(fā)生器、相機、測角儀和定向軟件

定制方案，可在現(xiàn)有的系統(tǒng)基礎(chǔ)上升級

現(xiàn)場安裝與培訓(xùn)

一致性/重復(fù)性：已被60多個主要晶體研究實驗室驗證

  數(shù)字化X射線勞厄解決方案

系統(tǒng)采用的背向散射角度采集和最終對準精度可以低至0.2度（需求可達0.02度），與高靈敏度偏振片相比，曝光時間可減少2個數(shù)量級以上，實現(xiàn)實時勞厄圖案記錄。

  結(jié)合電動樣本旋轉(zhuǎn)平臺，系統(tǒng)的晶體定位程序變得更簡單、更靈活。

  采集軟件從電腦提供準備好索引的數(shù)字圖像到Linux程控設(shè)備，系統(tǒng)利用Orient Express軟件分析圖像，獲得晶向或用已知結(jié)構(gòu)對現(xiàn)有晶體進行標引。

集成光束準直到數(shù)字勞厄探測器，比薄膜圖案采集快10倍以上

數(shù)字勞厄探測器允許比薄膜更快的收集

相機系統(tǒng)可安裝銅、鉬或者鎢靶X光源（長細聚焦、細聚焦或者點聚焦）。X光源在相機內(nèi)準直后直接照射到樣品上，可與高靈敏度偏振片的凈磁通增益相當。根據(jù)晶體材料和使用光源，可以在1至30秒曝光后記錄勞厄圖案。

  數(shù)字化X射線勞厄探測器可以在一小時內(nèi)安裝，替代傳統(tǒng)的偏振勞厄感光片

數(shù)字勞厄相機配備了綜合校準套件，技術(shù)人員/工程師可以對傳統(tǒng)的膠片暗盒探測器進行升級換代。

準直器的選擇，可以讓你根據(jù)測量晶體種類選擇正確的通量/分辨率。

標準數(shù)字化勞厄相機比高靈敏度偏振片減少了兩倍的數(shù)據(jù)采集時間。