目錄:北京儀光科技有限公司>>三維光學(xué)輪廓儀>>SENSOFAR共聚焦白光干涉儀>> 集成式白光干涉共聚焦顯微鏡測量頭S mart
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 地礦,能源,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,綜合 |
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產(chǎn)品特性
Sensofar 集成式白光干涉共聚焦顯微鏡測量頭S mart 的重量約只有S neox的一半(6kg),加上緊湊的外觀使的它在安裝上有更多選擇,例如可以直接在生產(chǎn)在線安裝做分析等。一般來說,在生產(chǎn)的環(huán)境中通常都會有震動或有害物質(zhì)污染等因素而不適合放置量測儀器,但S mart在開發(fā)時已經(jīng)考慮這些因素,一體成形的設(shè)計(jì)使得它能承受外部污染或震動影響。
雖然S mart體積較于S neox小,但是同樣保留了白光干涉、相位差干涉、共聚焦(Confocal)、多重聚焦四大功能,在光源部分同樣采用LED光,客戶可以自行彈性選擇要460nm、530nm、630nm或白光等波段。
Sensofar 集成式白光干涉共聚焦顯微鏡測量頭S mart 融合共聚焦和干涉技術(shù)讓設(shè)備同時擁有了粗糙度量測、三維形貌及薄膜厚度測量等功能,正是因?yàn)檫@種在*的技術(shù)融合,讓S mart光學(xué)輪廓儀的性價比遠(yuǎn)高于其他同類型的設(shè)備。
S mart將顯微圖像、共聚焦圖像、共聚焦輪廓、相位差干涉(PSI)、白光干涉(VSI)和高分辨率的薄膜厚度測量的功能集于一體。這種基于設(shè)計(jì)的Microdisplay技術(shù),簡明易學(xué)的軟件接口使您只需要選對鏡頭,正確對焦并選好測量方式就能快速準(zhǔn)確地獲得所需的信息。
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