澤攸 ZEM15：高校教學顯微觀察優(yōu)選
在高校基礎教學與入門級科研實驗中，一款操作便捷、性能可靠的臺式掃描電子顯微鏡（SEM）能為學生與科研人員提供直觀的微觀觀察體驗。澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM15，憑借貼合教學場景的設計與實用性能，成為眾多高校實驗室的常用設備。
產(chǎn)品細節(jié)
ZEM15 采用緊湊臺式設計，機身尺寸僅 650mm×500mm×800mm，重量約 50kg，無需專用實驗室，普通教室或小型實驗室即可輕松安置。操作界面采用觸控式設計，搭配圖文并茂的引導菜單，學生可通過簡單培訓快速掌握基本操作，如樣品加載、放大倍數(shù)調(diào)節(jié)、圖像保存等。樣品室為側(cè)開式結(jié)構(gòu)，最大可容納直徑 50mm、高度 30mm 的樣品，配備簡易樣品臺，支持 X/Y 軸手動微調(diào)，方便定位觀察區(qū)域。設備正面設有高清顯示屏，可實時顯示微觀圖像，同時支持 HDMI 接口外接投影儀，便于教學演示時全班共同觀察。此外，機身側(cè)面預留 USB 接口，可直接導出圖像數(shù)據(jù)，無需復雜的數(shù)據(jù)分析軟件，滿足教學報告撰寫需求。
產(chǎn)品性能
ZEM15 的分辨率能滿足基礎微觀觀察需求，二次電子圖像分辨率可達 3.0nm（30kV），能清晰呈現(xiàn)金屬、半導體、生物樣品等的表面微觀結(jié)構(gòu)，如金屬晶粒、細胞形態(tài)、材料表面缺陷等。設備加速電壓范圍為 0.5 - 15kV，可根據(jù)樣品導電性選擇合適電壓，避免絕緣樣品充電問題；放大倍數(shù)覆蓋 20 - 100000 倍，從低倍宏觀觀察到高倍細節(jié)分析均可實現(xiàn)。在圖像采集方面，支持實時掃描與靜態(tài)拍照，圖像幀率可達 15 幀 / 秒，能動態(tài)觀察樣品表面特征，且多次采集的圖像重復性較好，適合教學中對比不同樣品的微觀差異。此外，設備具備自動聚焦與自動亮度 / 對比度調(diào)節(jié)功能，減少人工操作誤差，降低學生操作難度。
用材講究
為平衡成本與耐用性，ZEM15 的外殼采用高強度工程塑料，表面經(jīng)過耐磨處理，能承受教學環(huán)境中頻繁的觸碰與清潔。樣品室內(nèi)部采用不銹鋼材質(zhì)，具備一定的抗腐蝕能力，可應對生物樣品固定液、金屬樣品清洗溶劑等常見化學試劑的輕微污染。電子光學系統(tǒng)的核心部件 —— 電子槍選用燈絲壽命較長的鎢燈絲，使用壽命可達 100 - 200 小時，降低教學過程中的耗材更換頻率與成本。鏡頭組件采用高純度玻璃與金屬鍍膜，減少電子散射，保障圖像清晰度；內(nèi)部電路采用模塊化設計，若某一部件故障，可單獨更換，降低維修難度與成本。
參數(shù)詳情
廣泛用途
在高校材料科學基礎實驗課程中，ZEM15 可用于觀察金屬材料的金相組織、聚合物的表面形貌，幫助學生理解材料結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)系；在生物學實驗中，能觀察動植物細胞的冷凍干燥樣品、微生物的形態(tài)特征，輔助講解細胞結(jié)構(gòu)與生命活動規(guī)律；在地質(zhì)學教學中，可分析巖石薄片、礦物顆粒的微觀結(jié)構(gòu)，讓學生直觀認識地質(zhì)樣品的組成與形成過程；此外，在職業(yè)教育的機電專業(yè)實訓中，還能用于檢測機械零件的表面磨損、微小缺陷，幫助學生理解加工工藝對零件質(zhì)量的影響。
使用說明
使用前，需將 ZEM15 放置在水平、無明顯振動的工作臺上，遠離強磁場（如大型電機）與強電場（如高壓設備），避免陽光直射。打開設備電源，進行預熱，預熱時間建議不少于 30 分鐘，期間檢查真空系統(tǒng)是否正常（設備內(nèi)置小型真空機組，無需外接真空設備）。準備樣品時，需確保樣品干燥、清潔，導電性差的樣品（如塑料、陶瓷）需進行噴金處理（設備可搭配小型噴金儀使用）；將樣品固定在樣品臺上，通過側(cè)開式樣品室門放入設備，關(guān)閉樣品室后啟動抽真空程序，待真空度達到要求（真空指示燈常亮）后開始觀察。通過觸控屏選擇加速電壓、放大倍數(shù)，啟動圖像掃描，調(diào)節(jié)聚焦、亮度與對比度，直至圖像清晰；如需切換觀察區(qū)域，可暫停掃描，手動微調(diào)樣品臺位置后重新掃描。觀察完成后，保存圖像數(shù)據(jù)至 U 盤，關(guān)閉掃描程序，待樣品室放氣后取出樣品。實驗結(jié)束后，關(guān)閉設備電源，清潔樣品室內(nèi)部（可用無塵布擦拭樣品臺），定期（建議每學期）檢查電子槍燈絲狀態(tài)，若燈絲損耗嚴重，及時更換；每半年請專業(yè)人員對真空系統(tǒng)進行維護，確保設備長期穩(wěn)定運行。
技術(shù)參數(shù)
澤攸 ZEM15：高校教學顯微觀察優(yōu)選
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