OLS5100共聚焦顯微鏡微觀世界精準(zhǔn)洞察者

在科研與工業(yè)檢測(cè)的征程中，對(duì)微觀世界的精準(zhǔn)洞察是推動(dòng)技術(shù)進(jìn)步的關(guān)鍵。奧林巴斯激光共聚焦顯微鏡OLS5100，憑借其優(yōu)良的技術(shù)和實(shí)用的功能，成為微觀世界的精準(zhǔn)洞察者。

產(chǎn)品細(xì)節(jié)：精心打造的設(shè)計(jì)亮點(diǎn)

OLS5100的彩色成像光學(xué)系統(tǒng)使用白光LED光源和CMOS相機(jī)獲取彩色信息，激光共焦光學(xué)系統(tǒng)采用405納米激光二極管光源和高靈敏度光電倍增管獲得共焦圖像。這種雙光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)，讓設(shè)備能夠同時(shí)獲取樣品的彩色信息、高度信息和高分辨率圖像，為用戶提供更全面的微觀世界信息。

產(chǎn)品性能：高效穩(wěn)定的觀測(cè)表現(xiàn)

OLS5100的激光共焦光學(xué)系統(tǒng)僅接收通過圓形針孔聚焦的光線，并非采集從樣品上反射和散射的所有光線，有助于消除模糊，獲得比普通顯微鏡對(duì)比度更高的圖像。在測(cè)量高度時(shí)，顯微鏡通過自動(dòng)移動(dòng)焦點(diǎn)位置獲取多個(gè)共焦圖像，根據(jù)非連續(xù)的焦點(diǎn)位置（Z）和檢測(cè)光強(qiáng)度（I）估算每個(gè)像素的光強(qiáng)變化曲線（I - Z曲線），并獲得其峰值位置和峰值強(qiáng)度，從而得到樣品表面的3D形狀信息。

用材考究：確保設(shè)備的可靠運(yùn)行

核心光學(xué)部件選用高透光率光學(xué)玻璃，經(jīng)過特殊鍍膜處理，減少光線反射與損耗。樣品臺(tái)臺(tái)面采用耐磨陶瓷材質(zhì)，表面平整度誤差小于2μm，既抗腐蝕又耐高溫。內(nèi)部機(jī)械傳動(dòng)部件采用精密滾珠絲杠與伺服電機(jī)，保障長(zhǎng)期使用后的運(yùn)動(dòng)精度。這些優(yōu)質(zhì)的材料選擇，為設(shè)備的穩(wěn)定運(yùn)行提供了堅(jiān)實(shí)的保障。

參數(shù)表：詳細(xì)呈現(xiàn)設(shè)備性能參數(shù)

型號(hào)多樣：適應(yīng)不同檢測(cè)需求

OLS5100提供多種型號(hào)，如OLS5100 - SAF、OLS5100 - LAF等。OLS5100 - SAF適用于對(duì)分辨率要求較高的半導(dǎo)體芯片檢測(cè)等領(lǐng)域，能夠清晰捕捉芯片表面的微小結(jié)構(gòu)；OLS5100 - LAF則更適合大型機(jī)械零件的表面粗糙度檢測(cè)，其較大的樣品容納空間和長(zhǎng)工作距離物鏡，方便對(duì)大型樣品進(jìn)行全面檢測(cè)。

用途廣泛：科研與工業(yè)的多面手

在材料科學(xué)領(lǐng)域，OLS5100可用于分析金屬材料的晶粒大小和晶界情況，為材料的性能優(yōu)化提供依據(jù)；在半導(dǎo)體制造中，能對(duì)芯片表面的微電路結(jié)構(gòu)進(jìn)行測(cè)量和分析，助力提升芯片制造的質(zhì)量；在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，可觀察細(xì)胞在支架表面的黏附形態(tài)，為生物材料的研究提供重要數(shù)據(jù)；在新能源領(lǐng)域，可用于檢測(cè)電池材料的微觀結(jié)構(gòu)，為電池性能的改進(jìn)提供支持。