探微知著：澤攸ZEM20Pro臺式電鏡?

在材料科學(xué)、生命科學(xué)和工業(yè)檢測等領(lǐng)域，觀察微觀世界的高清細節(jié)是研究與質(zhì)控的關(guān)鍵。澤攸ZEM20Pro臺式高分辨率掃描電子顯微鏡（SEM），為實驗室?guī)砹艘环N結(jié)構(gòu)緊湊、操作便捷的微觀成像解決方案。

澤攸ZEM20Pro雖為臺式設(shè)計，但其核心性能承襲了大型設(shè)備的技術(shù)精髓。產(chǎn)品采用高亮度鎢燈絲電子槍，確保了信號的穩(wěn)定性和圖像的信噪比。光學(xué)鏡筒與真空系統(tǒng)經(jīng)過精心設(shè)計，減少了像差，有助于獲得更清晰的圖像。其樣品室設(shè)計兼顧了實用性與便捷性，可容納最大直徑達100mm的塊狀樣品，并配備了可移動的五軸優(yōu)中心樣品臺，支持X、Y、Z、傾斜、旋轉(zhuǎn)多維調(diào)節(jié)，方便用戶快速定位感興趣的區(qū)域。

設(shè)備集成了高靈敏度背散射電子（BSE）探測器，能夠有效獲取成分襯度信息，輔助進行材料初步分析。在軟件方面，ZEM20Pro配備了功能豐富的控制平臺，界面直觀，不僅支持自動圖像拼接、圖像測量等常用功能，還簡化了抽真空、加高壓等操作流程，降低了新用戶的學(xué)習(xí)門檻，讓科研人員能更專注于樣本本身而非儀器操作。

其采用的材料注重耐用性與穩(wěn)定性，主體結(jié)構(gòu)堅固，關(guān)鍵部件選材考究，旨在保證設(shè)備在長期使用中的可靠性。ZEM20Pro適用于高校教學(xué)、企業(yè)研發(fā)、質(zhì)量檢測等多種場景，無論是金屬、陶瓷、半導(dǎo)體，還是生物、高分子材料，都能提供有價值的微觀形貌信息。

型號： ZEM20Pro

關(guān)鍵參數(shù)：

• 分辨率： 30 nm (加速電壓30kV)

• 放大倍數(shù)： 10x - 100,000x

• 加速電壓： 0-30 kV (可調(diào))

• 樣品臺： 五軸優(yōu)中心手動樣品臺

• 樣品尺寸： Max. ? 100 mm

• 真空系統(tǒng)： 分子泵系列

使用前，需確保設(shè)備放置在穩(wěn)固、無強磁干擾的實驗臺上，并連接穩(wěn)定的電源。操作時，只需將樣品安置于樣品座，放入樣品室，啟動軟件預(yù)設(shè)的抽真空程序，待真空就緒后即可選擇參數(shù)開始觀察。日常維護主要包括保持樣品室清潔和定期檢查真空泵油。