ZeGage Pro 憑借靈活的測量能力,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)制造、汽車、生物醫(yī)學(xué)等多個行業(yè),為不同領(lǐng)域的檢測需求提供支持。在半導(dǎo)體行業(yè),設(shè)備可用于芯片封裝過程中的金線高度測量與焊盤平整度檢測,采用相移干涉模式,能精準(zhǔn)測量金線高度,分辨率達(dá) 0.1nm,軟件自動分析數(shù)據(jù),識別虛焊、金線高度異常等缺陷,為芯片質(zhì)量控制提供數(shù)據(jù)依據(jù)。