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EDXRF真空臺(tái)式礦產(chǎn)分析儀測定工業(yè)硅中鐵鋁鈣?

閱讀:653      發(fā)布時(shí)間:2022-9-5
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真空臺(tái)式EDX9000Bplus礦產(chǎn)分析儀測定工業(yè)硅中鐵鋁鈣?

硅產(chǎn)業(yè)是我國有色金屬行業(yè)的重要組成部分,近年來一直受到國內(nèi)外廣泛關(guān)注。工業(yè)硅作為硅鋁及硅基合金、有機(jī)硅、多晶硅的基礎(chǔ)原材料,其下游應(yīng)用已經(jīng)滲透到軍工產(chǎn)業(yè)、信息產(chǎn)業(yè)、新能源等相關(guān)行業(yè)中,在我國經(jīng)濟(jì)社會(huì)發(fā)展中具有特殊的地位,是新能源、新材料產(chǎn)業(yè)發(fā)展*重要材料,展現(xiàn)了廣闊的應(yīng)用前景。工業(yè)硅的細(xì)分產(chǎn)品主要分為多晶硅、有機(jī)硅和合金硅;其中,多晶硅又可以進(jìn)一步冶煉成單晶硅。

工業(yè)硅行業(yè)的上游為化工原料制造業(yè),主要包括硅塊、熱電、還原劑、石油焦等,行業(yè)下游主要為電子器件、日化產(chǎn)品、光伏、半導(dǎo)體、汽車制造、房地產(chǎn)等

文在對(duì)分析過程中樣品制備﹑采譜條件﹑譜處理方式﹑分析技術(shù)等各個(gè)環(huán)節(jié)做了大量試驗(yàn)的基礎(chǔ)上,通過X熒光粉末壓片方式分析工業(yè)硅中Fe﹑Al﹑Ca等元素。結(jié)果表明,X熒光能譜法礦產(chǎn)分析儀EDX9000Bplus具有快速準(zhǔn)確高效的特點(diǎn),*可以得到滿意的分析結(jié)果。

樣品制備方法:

塊樣破碎至6~16目之間,縮分后稱取50克,在振動(dòng)磨樣機(jī)內(nèi)研磨至小于180目,稱取2.00克粉末樣品與H3BO3按比例1:1在瑪瑙研缽內(nèi)研磨混勻,裝入壓片模具在15MPa壓力下保持30秒,壓制成Ф24mm的片樣供儀器測定。

研磨與壓力條件試驗(yàn)

由于粒度效應(yīng)對(duì)測量精度的影響,壓片前必須確保粒度符合要求,為了確定最小研磨時(shí)間,將試樣分別研磨1﹑2﹑3…10分種,測量被測元素強(qiáng)度。實(shí)驗(yàn)表明,研磨3分種以上,測量強(qiáng)度值趨于穩(wěn)定,故確定研磨時(shí)間為3分種。

將試樣在不同壓力﹑多種保持時(shí)間下壓制成片,測量被測元素強(qiáng)度。實(shí)驗(yàn)表明,當(dāng)壓力在15噸以上,保持時(shí)間在30秒以上時(shí),測量強(qiáng)度值趨于穩(wěn)定,即確定壓力為15噸,保持時(shí)間為30秒。

X熒光能譜儀EDX9000Bplus礦產(chǎn)元素分析儀的寬動(dòng)態(tài)范圍和X射線的穿透性能可以大大減少分析中的樣品制備要求,相比于其它儀器分析方法對(duì)樣品制備的條件要求要寬松的多可以通過對(duì)比壓片樣和熔片樣中各元素強(qiáng)度值﹑檢出限和RSD值得到驗(yàn)證。粒度效應(yīng)和基體效應(yīng)一

樣,在經(jīng)過吸收增強(qiáng)影響校正后,各元素的熒光能量讀數(shù)與其對(duì)應(yīng)含量之間便有了良好的線性關(guān)系,這說明基體對(duì)被測元素特征能量的吸收增強(qiáng)作用,在全能量同時(shí)檢測的EDXRF分析中能很好地得到補(bǔ)正。從實(shí)驗(yàn)部分可以看到,只需經(jīng)過簡單的研磨、混合、壓片,就可以得到較理想的分析結(jié)果。

譜處理是從譜中提取以強(qiáng)度表示的每一個(gè)元素的峰面積,由于定量測定的基礎(chǔ)是元素發(fā)射

線的強(qiáng)度或峰面積,EDXRF的自動(dòng)數(shù)字濾波—最小二乘擬合法可以扣除背景,撥離重疊和測得靜的峰強(qiáng)度,這就為優(yōu)化計(jì)數(shù)率,降低本底并提高分析精密度提供了保證,它同時(shí)也是一種校正方法,主要包括:譜線重疊校正﹑逸出峰校正﹑背景校正,這都可以通過分析軟件來實(shí)現(xiàn)。一般來說,原子系數(shù)11—56號(hào)元素選用K線。對(duì)于強(qiáng)度提取方式全面積這種最直接的方法,它取能量限內(nèi)X射線強(qiáng)度的計(jì)數(shù)總值進(jìn)行譜處理,感興趣區(qū)的高低限定在峰谷和本底的交界處,這就為進(jìn)一步扣除本底提供了方便;對(duì)于凈面積,選高底限就更為重要了,因?yàn)樗怯酶叩拖抻?jì)數(shù)的平均值來扣除本底的,凈面積適用于峰無重疊而本底值隨樣品而異的情況。

經(jīng)驗(yàn)系數(shù)是通過對(duì)標(biāo)樣的回歸分析求得的,回歸法是一種數(shù)學(xué)統(tǒng)計(jì)學(xué)方法,計(jì)算的校正系數(shù)無一

定的物理意義,其精度主要取決于標(biāo)樣的個(gè)數(shù),標(biāo)準(zhǔn)樣品強(qiáng)度和濃度數(shù)據(jù)的質(zhì)量。因此在計(jì)算校正系數(shù)時(shí)必須有足夠數(shù)量的標(biāo)準(zhǔn)樣品和準(zhǔn)確的回歸數(shù)據(jù)。在校正過程中,校正項(xiàng)的選擇應(yīng)根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)系列濃度分布情況,質(zhì)量吸收系數(shù)的差別,以及元素間的交叉影響等因素進(jìn)行。過多引入校正項(xiàng)反而導(dǎo)致校正過度而造成更大的分析誤差。

準(zhǔn)確度測試

用同一樣品制成8個(gè)樣片在不同時(shí)間進(jìn)行精密度測試,結(jié)果如下



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