便攜式礦石分析儀Compass-300真空型礦石成分分析光譜儀?
X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)分析技術(shù)是采用現(xiàn)場(chǎng)X射線光譜儀在采樣現(xiàn)場(chǎng)對(duì)待測(cè)目標(biāo)體中元素進(jìn)行快速地定性和定量分析技術(shù), 又稱(chēng)為現(xiàn)場(chǎng)X射線熒光礦石分析儀。 根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)分析的應(yīng)用場(chǎng)景與采樣方法, X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)分析可分為X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)原位分析和X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)取樣分析。 現(xiàn)場(chǎng)原位分析是指將X射線光譜分析儀的探測(cè)窗直接置于巖(礦)石露頭或土壤或其他待測(cè)物料的表面, 在現(xiàn)場(chǎng)原生條件下獲取待測(cè)目標(biāo)體中元素種類(lèi)和元素含量的分析方法; 現(xiàn)場(chǎng)取樣分析是指對(duì)待測(cè)目標(biāo)體進(jìn)行樣品采集, 甚至于對(duì)樣品進(jìn)行初步的加工和處理, 在現(xiàn)場(chǎng)工作條件下應(yīng)用X射線光譜儀獲取待測(cè)目標(biāo)體中元素種類(lèi)和元素含量的分析方法。
礦石實(shí)驗(yàn)室分測(cè)試析的對(duì)象和任務(wù)要求分析測(cè)試方法具有檢出限低、檢測(cè)范圍寬、較高的準(zhǔn)確度和精密度。地球化學(xué)樣品的成分分析方法有傳統(tǒng)的化學(xué)分析法、電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP-AES)、電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS)、原子吸收光譜(AAS)、X射線熒光光譜(XRF)法等?;瘜W(xué)分析法雖然使用儀器簡(jiǎn)單,但對(duì)操作技術(shù)的要求高、操作比較繁瑣,使用大量的酸堿等化學(xué)試劑,分析流程較長(zhǎng),很難滿足日常生產(chǎn)的需求。同樣ICP-AES、ICP-MS、原子吸收光譜法在樣品前處理過(guò)程中也常用大量化學(xué)試劑,造成環(huán)境污染?;赬射線熒光光譜法的礦石成分分析儀Compass300具有樣品前處理簡(jiǎn)單、分析周期短、重現(xiàn)性好、可同時(shí)測(cè)定多元素、測(cè)試成本低等優(yōu)點(diǎn)。
Compass 300能量色散X射線熒光(EDXRF)基于臺(tái)式機(jī)的設(shè)計(jì)平臺(tái),其分析性能更接近于功率更高的落地式光譜儀,比一般便攜式設(shè)備測(cè)試效果更穩(wěn)定,更出眾。配備了*SDD檢測(cè)器, 同時(shí)實(shí)現(xiàn)了高分辨率,高計(jì)數(shù)率CPS和高靈敏度,從而達(dá)到實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的測(cè)試效果。
•Compass 300配備的SDD檢測(cè)器優(yōu)勢(shì)
>高分辨率:通常優(yōu)于130ev,降低相鄰元素干擾,并提高輕元素檢測(cè)效果
>高計(jì)數(shù)率:150,000 cps (high count per second)
得到相同的強(qiáng)度,只要普通Si Pin檢測(cè)器的0.2~0.05倍的時(shí)間,即Si Pin在設(shè)定分析時(shí)間為100秒的話,對(duì)SDD而言,得到相同的強(qiáng)度,只需5~20秒
>高靈敏度:靈敏度提高6-10倍。低背景值,提高元素檢測(cè)下限
•便攜,堅(jiān)固,緊湊的設(shè)計(jì),輕松實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)高精度樣品無(wú)損檢測(cè)
•可分析各種樣品形態(tài):包括礦體、礦塊、礦渣、礦粉、粗礦、精礦、尾礦、土壤、泥土、泥漿、灰塵、粉塵、過(guò)濾物、薄膜、廢水、廢油、液體樣品等
•只需制備少量樣品便可進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)
•一鍵測(cè)試,一鍵打印報(bào)告
•可選配大容量電池,無(wú)需外部供電情況下可實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)時(shí)間工作
應(yīng)用領(lǐng)域
>分析礦種
涵蓋從Mg至U之間的金屬、非金屬、貴重金屬和稀有金屬礦等
>勘查
多元素現(xiàn)場(chǎng)快速分析,可廣泛應(yīng)用于普查、詳查的各個(gè)過(guò)程,追蹤礦化異常,擴(kuò)展勘查范圍。可大大減少送回實(shí)驗(yàn)室樣品的數(shù)量,從而節(jié)約運(yùn)輸和分析費(fèi)用
>巖芯檢測(cè)
快速分析巖芯和和其他鉆探樣品,建立礦山三維圖,分析儲(chǔ)量,可大大提高鉆探現(xiàn)場(chǎng)及時(shí)決策效率
>開(kāi)采過(guò)程控制
礦體邊界圈定,礦脈走向判定,對(duì)開(kāi)采過(guò)程進(jìn)行精確管理和控制,對(duì)礦石品位進(jìn)行隨時(shí)檢測(cè)
>品位控制
對(duì)精礦、礦渣、礦尾等礦物品位進(jìn)行精確快速分析,為礦物貿(mào)易、加工以及再利用提供價(jià)值判斷依據(jù)
>環(huán)境分析
快速對(duì)礦石周?chē)h(huán)境、尾礦、粉塵、土壤污染等進(jìn)行分析與檢測(cè),評(píng)估礦石環(huán)境修復(fù)效果
>石油化工:燃料,潤(rùn)滑油,添加劑中的硫元素分析,磨損金屬分析
>刑偵及公安:證據(jù)分析,材料匹配,爆炸物等
>食品,化妝品和藥品:添加劑控制,原材料,有害金屬,包裝材料等
技術(shù)參數(shù)
探測(cè)器 | 高分辨率SDD檢測(cè)器 |
激發(fā)源 | 4瓦微型一體化光管 50kv Max,200uA Max |
工作溫度 | -20 to 50 °C |
測(cè)量時(shí)間 | 30-300秒(用戶(hù)可自定義測(cè)試時(shí)間) |
樣品類(lèi)型 | 液體,固體和粉末 |
儀器校準(zhǔn) | 開(kāi)機(jī)自動(dòng)校準(zhǔn) |
標(biāo)定曲線 | 地礦 |
儀器尺寸 | 270mm*320mm*230mm(長(zhǎng)*寬*高) |
樣品腔尺寸 | 170mm*110mm*17mm(長(zhǎng)*寬*高) |
儀器重量 | 10.5kg |
顯示屏(分辨率1280*800) | 8英寸 Win10操作系統(tǒng) |
數(shù)據(jù)傳輸 | USB Port, 藍(lán)牙, Wi-Fi, GPS |
安全防護(hù) | 輻射指示燈 內(nèi)置射線保護(hù)裝置(自動(dòng)切斷) 軟件警示 |
報(bào)告格式 | Excel, PDF |
配件及耗材 | 測(cè)試薄膜 礦樣粉末專(zhuān)用測(cè)試杯 取樣勺 測(cè)試窗口專(zhuān)用薄膜 |
可選配件 | 電池:連續(xù)工作八小時(shí) 壓片機(jī) 熔片機(jī) 電子秤 磨樣機(jī) 150目篩子 |
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