目錄:蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司>>XRF光譜儀>>礦石分析儀>> EDX9000B硅鐵分析儀
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 行業(yè)專用類型 | 地質(zhì)巖礦 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 臺式/落地式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 地礦,能源,建材,冶金,綜合 |
EDX-9000B XRF Spectrometer
能量色散X熒光光譜儀
礦產(chǎn)檢測專家
Simply the Best
>美國AmpTek -SDD探測器, 高分辨率高計(jì)數(shù)率
>真空測試環(huán)境提供優(yōu)秀輕元素檢測效果
>無損元素分析涵蓋11Na to 92U
>適應(yīng)各種復(fù)雜礦物樣品測試，固體，液體，合金，粉末和泥漿
>多組合濾光片系統(tǒng)，有效提高微量元素檢出限
>堅(jiān)固的設(shè)計(jì)適用于于各種復(fù)雜而嚴(yán)苛的現(xiàn)場工作環(huán)境
EDX9000B能量色散熒光光譜儀-礦產(chǎn)分析專家
作為一款高性能的臺式能量色散X射線熒光（EDXRF）元素分析儀，新款EDX9000B配置了*基于Windows基本參數(shù)算法的FP（Fundamental parameter）軟件，同時(shí)配備了優(yōu)秀的高性能硬件，來滿足客戶對于復(fù)雜礦石樣品的元素分析需求。無論客戶的樣品是是固體，合金，粉末，液體或者漿液，EDX9000B都可以輕松實(shí)現(xiàn)從鈉（Na）到鈾（U）元素的無損定性和定量分析。更快的分析速度，更精確的測試結(jié)果，更穩(wěn)定的儀器性能， 使得EDX9000B成為了客戶進(jìn)行元素分析的最佳工具之一。
ESI英飛思EDX9000B光譜儀主要應(yīng)用于在采礦過程的所有階段進(jìn)行材料元素成分分析。從勘探樣品到礦物精礦，從選礦到尾礦，EDX9000B都在苛刻的采礦環(huán)境中均具有出色的靈活性，分析性能和穩(wěn)定性。
EDX9000B專注于對地質(zhì)材料的主量，微量和痕量元素進(jìn)行定性和定量分析，其中包括：
•鐵礦• 銅礦• 鋁土礦•貴金屬礦產(chǎn)•稀土礦•原料•磷酸鹽•煤炭•鉛鋅礦•錳礦•鎳礦•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他等
EDX9000B操作簡單，分析性能出色，同時(shí)還可拓展到以下應(yīng)用
>塑膠及有機(jī)物：塑料材料PE，PVC，添加劑等元素分析
>石油化工：燃料，潤滑油監(jiān)測，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析
>環(huán)境：廢水，空氣污染，土壤和地面，排放控制等
>涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質(zhì)等
>刑偵及公安：證據(jù)分析，材料匹配，爆炸物等
>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，有害金屬，包裝材料等
產(chǎn)品特點(diǎn)
作為一款專業(yè)為礦產(chǎn)元素分析而設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的光譜儀，EDX-9000B兼顧了耐用性，易于操作和高性價(jià)比。其顯著優(yōu)勢主要有：
•無需或者很少的樣品制備，全程無損分析，一到三分鐘即可出結(jié)果
•強(qiáng)大的基于Windows的FP（基本參數(shù)算法）軟件降低了基體效應(yīng)的影響
•50 kV 光管管和電制冷的SDD硅漂移檢測器不僅具有出色的短期重復(fù)性和長期重現(xiàn)性，而且具有出色的元素峰分辨率
•能同時(shí)進(jìn)行元素和氧化物成分分析
•多重儀器硬件保護(hù)系統(tǒng)，并可通過軟件進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全
•特別設(shè)計(jì)的光路和真空系統(tǒng)大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P）的測試靈敏度和準(zhǔn)確性，同時(shí)在測試Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的靈敏度和穩(wěn)定性都有了明顯的提高
•友好的用戶界面，可定制的分析報(bào)告，可一鍵打印測試報(bào)告，包括分析結(jié)果，樣品信息，光譜信息和樣品圖像
•八種光路準(zhǔn)直系統(tǒng)，根據(jù)不同樣品大小自動切換，亦可測試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差
•高清內(nèi)置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位
礦產(chǎn)元素檢測專家EDX9000B
>儀器參數(shù)
儀器外觀尺寸: 560mm*380mm*410mm |
超大樣品腔：460mm*310mm*95mm |
半封閉樣品腔（抽真空時(shí)）：Φ150mm×高75mm |
儀器重量: 45Kg |
元素分析范圍：Na11-U92鈉到鈾 |
可分析含量范圍：1ppm- 99.99% |
探測器：AmpTek 高分辨率電制冷SDD硅漂移檢測器 |
多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器 |
X光管：50W高功率鈹窗光管 |
高壓發(fā)生裝置：電壓最大輸出50kV，自帶電壓過載保護(hù) |
電壓：220ACV 50/60HZ |
環(huán)境溫度：-10 °C 到35 °C |
儀器配置
>標(biāo)準(zhǔn)配置 | >可選配置 |
純Ag初始化標(biāo)樣 | 磨樣機(jī) |
真空泵 | 壓片機(jī) |
礦石專用樣品杯 | 烘干箱 |
USB數(shù)據(jù)線 | 熔片機(jī) |
電源線 | 電子秤 |
測試薄膜 | 礦石標(biāo)準(zhǔn)樣 |
儀器出廠和標(biāo)定報(bào)告 | 交流凈化穩(wěn)壓電源 |
保修卡 | 150目篩子 |
功能強(qiáng)大而界面友好的測試軟件
界面清晰易用。選擇方法并輸入樣品識別信息后即可開始測量。
軟件內(nèi)核-基本參數(shù)法（FP）可輕松分析未知樣品。
EDX9000B已在工廠預(yù)安裝了軟件并進(jìn)行了數(shù)據(jù)標(biāo)定，客戶運(yùn)行軟件即可立刻開始測試。無需每天重復(fù)標(biāo)定。強(qiáng)大的軟件功能還提供了
>一鍵初始化儀器，基體自動匹配
>自動定性，半定量和定量分析，不同樣品測試譜圖可實(shí)時(shí)對比
>光譜處理和校正，去除雙倍峰和逃逸峰干擾，降低元素吸收增強(qiáng)效應(yīng)影響
>光譜背景扣除，有效提高微量元素檢測精度
>可實(shí)時(shí)刷新測量結(jié)果
>簡單的流程欄向?qū)Э蓭椭脩魟?chuàng)建新的自定義標(biāo)定曲線
>可定制化測試報(bào)告，一鍵打印
>提供多種數(shù)據(jù)訪問接口，可兼容LIMS實(shí)驗(yàn)室管理系統(tǒng)
磁鐵礦樣品10次測試穩(wěn)定性報(bào)告
測量次數(shù) | Fe(%) | SiO2(%) | TiO2(%) | MnO(%) | Zn(%) | S(%) | P(%) | Pb(%) | K2O(%) |
1_1 | 65.4014 | 6.6936 | 0.1123 | 0.0489 | 0.0090 | 0.8309 | 0.0118 | 0.0076 | 0.0684 |
1_2 | 65.4336 | 6.6575 | 0.1038 | 0.0465 | 0.0095 | 0.9092 | 0.0121 | 0.0075 | 0.0667 |
1_3 | 65.3603 | 6.7127 | 0.1132 | 0.0495 | 0.0093 | 0.8903 | 0.0119 | 0.0071 | 0.0677 |
1_4 | 65.3935 | 6.7233 | 0.1278 | 0.0483 | 0.0097 | 0.8303 | 0.0117 | 0.0068 | 0.0684 |
1_5 | 65.3812 | 6.7145 | 0.1058 | 0.0493 | 0.0097 | 0.8303 | 0.0117 | 0.0066 | 0.0684 |
1_6 | 65.3905 | 6.7421 | 0.1021 | 0.0503 | 0.0097 | 0.8303 | 0.0117 | 0.0065 | 0.0684 |
1_7 | 65.3603 | 6.7041 | 0.1075 | 0.0495 | 0.0093 | 0.8903 | 0.0119 | 0.0071 | 0.0677 |
1_8 | 65.4161 | 6.7280 | 0.1086 | 0.0461 | 0.0093 | 0.8938 | 0.0115 | 0.0074 | 0.0668 |
1_9 | 65.4320 | 6.7036 | 0.1182 | 0.0512 | 0.0096 | 0.9005 | 0.0120 | 0.0079 | 0.0669 |
1_10 | 65.4546 | 6.7707 | 0.1072 | 0.0502 | 0.0097 | 0.8868 | 0.0121 | 0.0067 | 0.0677 |
平均值Average | 65.4024 | 6.7150 | 0.1107 | 0.0490 | 0.0095 | 0.8693 | 0.0118 | 0.0071 | 0.0677 |
標(biāo)準(zhǔn)偏差SD | 0.0316 | 0.0300 | 0.0077 | 0.0016 | 0.0002 | 0.0340 | 0.0002 | 0.0005 | 0.0007 |
相對標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD | 0.0483% | 0.4466% | 6.9348% | 3.3142% | 2.5743% | 3.9090% | 1.6512% | 6.6142% | 1.0337% |
測量次數(shù) | Na2O (%) | MgO (%) | Al2O3 (%) | As (%) | Cr (%) | Ni (%) | Cu (%) | Sn (%) | CaO (%) |
1_1 | 0.0203 | 0.7523 | 0.5222 | 0.0065 | 0.1636 | 0.0760 | 0.0476 | 0.0131 | 0.6359 |
1_2 | 0.0232 | 0.8134 | 0.5230 | 0.0061 | 0.1584 | 0.0787 | 0.0488 | 0.0114 | 0.6336 |
1_3 | 0.0213 | 0.8059 | 0.5407 | 0.0071 | 0.1667 | 0.0796 | 0.0494 | 0.0144 | 0.6345 |
1_4 | 0.0216 | 0.7635 | 0.5234 | 0.0072 | 0.1640 | 0.0761 | 0.0485 | 0.0131 | 0.6267 |
1_5 | 0.0223 | 0.7815 | 0.5334 | 0.0072 | 0.1640 | 0.0751 | 0.0485 | 0.0131 | 0.6267 |
1_6 | 0.0222 | 0.7311 | 0.5512 | 0.0072 | 0.1640 | 0.0741 | 0.0485 | 0.0131 | 0.6267 |
1_7 | 0.0212 | 0.7559 | 0.5407 | 0.0071 | 0.1667 | 0.0756 | 0.0494 | 0.0144 | 0.6345 |
1_8 | 0.0249 | 0.7737 | 0.5233 | 0.0068 | 0.1576 | 0.0760 | 0.0471 | 0.0131 | 0.6324 |
1_9 | 0.0204 | 0.7712 | 0.5123 | 0.0064 | 0.1659 | 0.0750 | 0.0475 | 0.0140 | 0.6241 |
1_10 | 0.0236 | 0.8017 | 0.5435 | 0.0071 | 0.1663 | 0.0730 | 0.0489 | 0.0130 | 0.6414 |
平均值Average | 0.0221 | 0.7750 | 0.5314 | 0.0069 | 0.1637 | 0.0759 | 0.0484 | 0.0133 | 0.6317 |
標(biāo)準(zhǔn)偏差SD | 0.0015 | 0.0261 | 0.0123 | 0.0004 | 0.0033 | 0.0020 | 0.0008 | 0.0009 | 0.0054 |
相對標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD | 6.6056% | 3.3702% | 2.3177% | 5.8244% | 1.9863% | 2.5892% | 1.6256% | 6.5508% | 0.8578% |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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