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三綜合試驗箱的執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗方法

閱讀：1599        發(fā)布時間：2023-7-28
　　三綜合試驗箱適用于電子儀器儀表、材料、電工、車輛、金屬、電子產(chǎn)品等各種電子元?dú)饧诟邷?、低溫振動環(huán)境下，檢驗其性能和各項指標(biāo)及質(zhì)量管理之用。
 
　　執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗方法：
 
　　GBT10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件
 
　　GB10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件(溫度交變)
 
　　GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007)
 
　　GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)
 
　　GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗(IEC60068-2-78:2001)
 
　　GB/T2423.59-200電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh:溫度濕度振動三綜合
 
　　GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db:交變濕熱12h+12h循環(huán)(IEC60068-2-30:2005)
 
　　GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cb:設(shè)備用恒定濕熱(IEC60068-2-56)
 
　　GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14)
 
　　GJB150.3A-2009jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗
 
　　GJB150.4A-2009jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗

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