科迪生產(chǎn)雙85恒溫恒濕試驗箱 返回列表頁

科迪生產(chǎn)雙85恒溫恒濕試驗箱

雙85恒溫恒濕試驗箱技術(shù)參數(shù)及詳細配置：

沖擊方式：兩箱式或三箱式（用戶自選）

工作室溫度沖擊范圍:A型-20℃～+150℃  B型-30℃～+150℃C型-40℃～+150℃  D型-50℃～+150℃  E型-60℃～+150℃F型-70℃～+150℃

高溫室溫度范圍:60℃～150℃、 升溫時間≤45分鐘

低溫室溫度范圍:根據(jù)用戶選擇的型號,降溫時間≤45分鐘

溫度波動度：≤±0.5℃

高溫室溫度偏差：≤±2℃

低溫室溫度偏差：≤±2℃

溫度恢復(fù)時間鐘： ≤5分

工作室轉(zhuǎn)換時間：≤10秒

沖擊轉(zhuǎn)換方式：兩箱式為試件選擇環(huán)境轉(zhuǎn)換,三箱式為環(huán)境選擇試件轉(zhuǎn)換

高溫室尺寸：700×700×350（深×寬×高）單位mm

低溫室尺寸：700×700×350（深×寬×高）單位mm

滿足標(biāo)準：

1.GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件  

2.GB11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件  

3.GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件  

4.GB2423.1低溫試驗、試驗A  

5.GB2423.2高溫試驗、試驗B  

6.GB2423.22溫度變化試驗、試驗N  

7.IEC68-2-14試驗N  

8.Guo軍標(biāo)GJB150.3-86  

9.Guo軍標(biāo)GJB150.4-86  

10.GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法  

11.GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法  

設(shè)備說明：

該產(chǎn)品適用于電子元器件的安全性能測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選試驗等,同時通過此裝備試驗,可提高產(chǎn)品的可靠性和進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制

設(shè)備型號：KD-50 500×400×350（長×寬×高）

溫度沖擊型:A型-20℃～+150℃  B型-30℃～+150℃C型-40℃～+150℃

D型-50℃～+150℃  E型-60℃～+150℃F型-70℃～+150℃

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