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冠層分析儀的設(shè)計原理及應(yīng)用
閱讀：433 發(fā)布時間：2022-11-3
冠層分析儀采用的原理是冠層孔隙度與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)。根據(jù)通過介質(zhì)弱化的比爾定律，在定義一系列關(guān)于植物冠層的假設(shè)條件下，通過測量冠層孔隙度，用半理論半經(jīng)驗公式計算冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這也是通過分析樹冠下穹頂?shù)膱D像來測量樹冠孔隙度的方法。其實冠層分析儀的設(shè)計原理對用戶來說并不是特別重要，重要的是冠層分析儀的應(yīng)用范圍和功能特點。
冠層分析儀廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、園藝和林業(yè)植物類群的栽培、育種、比較和發(fā)展的研究和教學(xué)，以及農(nóng)作物、果樹和森林冠層光照條件的測量和分析。它可以測量植物冠層的陽光直射透過率、天空散射光透過率、冠層消光系數(shù)、葉面積指數(shù)(LAI)和平均葉傾角(MTA)。
冠層分析儀攜帶的筆記本電腦可以幫助你選擇正確的采樣點，并決定是否立即選擇圖像。電腦電池提供的電源輕便，便于觀測，特別適合在野外完成繁重的觀測任務(wù)。圖像分析軟件可以任意定義圖像分析區(qū)域(天頂角可分為10個區(qū)域，方位角可分為10個區(qū)域)。在進(jìn)行不同方向的冠層區(qū)域分析時，可以屏蔽掉任何地面特征和不合理的冠層部分(如缺樹、邊問題等。).選擇不同的天頂角起始角和終止角，可以避免不滿足冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)計算的冠層孔隙條件。