流式成像法粒度儀，歐奇奧IPAC2型微流成像儀同時具備激光粒度儀、庫爾特計(jì)數(shù)器和顯微鏡的功能，可對細(xì)菌或蛋白質(zhì)的聚集進(jìn)行動態(tài)跟蹤，是新一代的粒度儀分析系統(tǒng)。

微流圖像法粒度儀,靜態(tài)圖像法粒度儀,500NanoXY圖像法粒度儀是一臺粉體顆粒表征的自動粒度粒形分析儀，可以分析范圍在0.2μm‐3000μm之間的粉體顆粒粒...

ZML-310顯微鏡圖像法粒度儀由顯微鏡、高分辨率數(shù)字?jǐn)z像機(jī)、分析軟件、計(jì)算機(jī)等部分組成。廣泛適用于API原料藥，藥物晶型分析、生物醫(yī)藥、磨料、電池、非金屬礦、...

ZML310顯微鏡法粒度粒形儀是采用顯微鏡圖像法測量顆粒粒度大小、形狀特征、顆粒表面顏色的顆粒分析系統(tǒng)，具有直觀、可視、準(zhǔn)確、測試范圍寬、操作簡單、測量參數(shù)全面...

ZML-310透皮乳膏粒度儀是采用顯微鏡圖像法測量顆粒粒度大小、形狀特征、顆粒表面顏色的顆粒分析系統(tǒng)。設(shè)備由顯微鏡、高分辨率數(shù)字?jǐn)z像機(jī)、分析軟件、計(jì)算機(jī)等部分組...

粒度粒形儀,納米激光粒度儀應(yīng)用顆粒光散射原理,據(jù)光學(xué)理論推算顆粒粒度分布,主要適用于粉體或各種材料顆粒粒度分析,其特點(diǎn)是粒度分析動態(tài)范圍寬,分辨能力高;操作簡便...

粒度粒形儀,動態(tài)光納米粒度儀介紹：當(dāng)激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時，由于顆粒的布朗運(yùn)動引起散射光的頻率偏移，導(dǎo)致散射光信號隨時間發(fā)生動態(tài)變化，該變化的大...

美國DT電聲法zeta電位儀介紹：DT300粒度和Zeta電位分析儀器采用技術(shù)---多頻電聲學(xué)測量技術(shù)測量膠體體系的Zeta 電位。對于高達(dá)50％（體積）濃度的...

KF100力學(xué)法表面張力儀具有超高分辨率，可達(dá)0.01mN/m。使用先進(jìn)的伺服電機(jī)，保證樣品臺的升降平穩(wěn)。測量速度達(dá)50Hz，每20毫秒出一個數(shù)據(jù)。并內(nèi)置白光L...

DSA-X標(biāo)準(zhǔn)型接觸角測量儀產(chǎn)品特點(diǎn)：●便捷的軟硬件操作，快速熟練掌握●高速高分辨工業(yè)相機(jī)●手動或軟件控制精密電動注射單元●多種計(jì)算擬合方法，自動基線識別功能●...

接觸角（Contact angle）是指在氣、液、固三相交點(diǎn)處所作的氣-液界面的切線，此切線在液體一方的與固-液交界線之間的夾角θ，接觸角測量是現(xiàn)今表面性能檢測...

ALPHA-1智能接觸角測量儀特點(diǎn)：●便捷的軟硬件操作，快速熟練掌握●高速高分辨工業(yè)相機(jī)●手動或軟件控制精密電動注射單元●多種計(jì)算擬合方法，自動基線識別功能●智...

IPAC2型全自動蛋白質(zhì)聚集體計(jì)數(shù)分析儀：高分辨CCD保證圖像采集準(zhǔn)確性，減小分辨率引起的圖形處理誤差；精確的系統(tǒng)優(yōu)化避免高速攝像過程中產(chǎn)生的抖動干擾；使用藍(lán)光...

IPAC1型全自動蛋白質(zhì)聚集體計(jì)數(shù)分析儀可對顆粒樣品的顆粒大小和形狀進(jìn)行分析, 并進(jìn)行粒子計(jì)數(shù)，可提供粒度分布，粒形分布，相對計(jì)數(shù)，計(jì)數(shù)等數(shù)據(jù)可以進(jìn)行顆粒運(yùn)動軌...

顯微鏡粒度粒形儀,靜態(tài)干濕法粒度粒形分析儀集成了真空分散裝置及高分辨聚焦裝置（1000萬像素相機(jī)+特殊LED光源）;藍(lán)光光源可以檢測極小的顆粒。500NanoX...

透皮乳膏粒度儀，ZML310透皮乳膏粒度晶型分析儀是采用顯微鏡圖像法測量顆粒粒度大小、形狀特征、顆粒表面顏色的顆粒分析系統(tǒng)。設(shè)備由顯微鏡、高分辨率數(shù)字?jǐn)z像機(jī)、分...

Spraylink高速噴霧粒度儀擁有10KHz的數(shù)據(jù)采集速率，能夠完成每秒10000次噴霧粒徑測量，從而動態(tài)捕捉0.1毫秒時間間隔的顆粒粒度分布。

ZS920動態(tài)光散射納米粒度儀及zeta電位分析儀：當(dāng)激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時，由于顆粒的布朗運(yùn)動引起散射光的頻率偏移，導(dǎo)致散射光信號隨時間發(fā)生動...

LS13 320 全新微納米激光粒度分析儀應(yīng)用顆粒光散射原理,據(jù)光學(xué)理論推算顆粒粒度分布，主要適用于粉體或各種材料顆粒粒度分析，其特點(diǎn)是粒度分析動態(tài)范圍寬、分辨...

高分辨率zeta電位分析儀WALLISζ是一種創(chuàng)新的zeta電位分析儀，專門用于表征納米顆粒懸浮液。它基于重新審視的現(xiàn)代版激光多普勒電泳（LDE）技術(shù)，提供*的...