光炎量子效率分析儀圖像傳感器測試儀 返回列表頁

SG-A光炎量子效率分析儀圖像傳感器測試儀特色：

無損光學檢測。

高度準直梁角/高準直波束角<0.05度，<0.1度，<0.5度，<1度，<3度(不同型號)

高均勻光束點≥99%。

光的不穩(wěn)定性≤1%。

高動態(tài)范圍測試能力：80dB~140dB（不同型號）。

可以測試CMOS圖像傳感器參數(shù)。量子效率、光譜響應(yīng)、系統(tǒng)增益、靈敏度、動態(tài)范圍、暗電流/噪聲、信噪比、飽和容量、線性誤差（LE）、DCNU（暗電流不均勻性）、PRNU（光響應(yīng)不均勻性）、CRA（射線角）。

全光譜波長范圍：300nm–1100nm或350nm~1000nm（PTC）。

波長可擴展至1700納米以上。

DUT封裝：CIS模塊，PCB板級，CIS攝像頭，有/無微透鏡。

SG-A和DUT之間的“直接“或“握手“通信協(xié)議。

定制的測試夾具和平臺（手動或自動，多6軸）。

強大的分析軟件ARGUS®。

應(yīng)用：指紋識別（CIS+鏡頭，CIS+準直器，TFT陣列傳感器）CIS的微透鏡設(shè)計，晶圓級光學檢測，CIS DSP芯片算法開發(fā)，Si TFT傳感器面板，飛行時間相機傳感器，接近傳感器（量子效率，靈敏度，線性度，SNR等），d-ToF傳感器，i-ToF傳感器，多光譜傳感器，環(huán)境光傳感器（ALS），指紋顯示（FoD）傳感器。

規(guī)格：

SG-A型CMOS圖像傳感器測試儀的功能非常強大，因此相關(guān)的規(guī)格和配件也非常齊全。請與我們聯(lián)系，以了解更多細節(jié)和選擇咨詢,以下是主要的能力規(guī)格：

–全光譜的波長范圍：300–1100納米或350–1000納米（PTC）。

–波長范圍可以擴展到1700納米或更高。

–單一波長源。470納米,530納米,630納米,940納米（±5納米）或自定義。

–動態(tài)范圍：80dB、100dB或140dB。

–測試夾具：DUT≤100mmx100mmx30mm(高度)[基本型]或訂制。

–平臺：無，手動3軸或6軸（手動+自動）平臺（可訂制)

應(yīng)用范圍：

指紋識別（CIS+鏡頭，CIS+準直器，TFT-陣列傳感器)

CIS的微透鏡設(shè)計，晶圓級光學檢查

CIS DSP芯片的算法開發(fā)

Si TFT傳感器面板

飛行時間相機傳感器

近距離感應(yīng)器(量子效率、靈敏度、線性度、SNR等)

d-ToF傳感器，i-ToF傳感器

多光譜傳感器

環(huán)境光傳感器(ALS)

指紋顯示（FoD）傳感器