光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測(cè)試儀是商用CMOS圖像傳感器測(cè)試儀，可以提供全面的CMOS圖像傳感器參數(shù)表征。被測(cè)設(shè)備可以是幾種類(lèi)型的CMOS圖像傳感器模塊。檢驗(yàn)程序符合EMVA 1288標(biāo)準(zhǔn)。因此，可用于進(jìn)行晶圓級(jí)光學(xué)檢測(cè)、加工參數(shù)控制、微透鏡設(shè)計(jì)、微透鏡驗(yàn)證。SG-A CMOS圖像傳感器測(cè)試儀的高度準(zhǔn)直光束（<1°）可以克服傳統(tǒng)光學(xué)系統(tǒng)（如積分球系統(tǒng)）無(wú)法解決的新制造工藝的檢測(cè)困難。

詳情介紹

特色

*無(wú)損光學(xué)檢測(cè)。

*高度準(zhǔn)直梁角 /高準(zhǔn)直波束角<0.05度 ,<0.1度 <0.5度 ,<1度,9<3度 (不同型號(hào))

*高均勻光束點(diǎn)：≥ 99%。

*光的不穩(wěn)定性≤1%。

*高動(dòng)態(tài)范圍測(cè)試能力：80dB~140dB（不同型號(hào)）。

*可以測(cè)試CMOS圖像傳感器參數(shù)。量子效率、光譜響應(yīng)、系統(tǒng)增益、靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、暗電流/噪聲、信噪比、飽和容量、線(xiàn)性誤差（LE）、DCNU（暗電流不均勻性）、PRNU（光響應(yīng)不均勻性）、CRA。

*全光譜波長(zhǎng)范圍:300nm-1100nm或350nm~1000nm（PTC）。

*波長(zhǎng)可擴(kuò)展至1700納米以上。

*DUT 封裝：CIS 模塊，PCB 板級(jí)，CIS 攝像頭，有/無(wú)微透鏡。

*SG-A和DUT之間的 “直接 “或 “握手 “通信協(xié)議。

*定制的測(cè)試夾具和平臺(tái)（手動(dòng)或自動(dòng)，多6軸）。

*功能完整的分析軟件ARGUS®。

*應(yīng)用：指紋識(shí)別（CIS+鏡頭，CIS+準(zhǔn)直器，TFT陣列傳感器）CIS的微透鏡設(shè)計(jì)，晶圓級(jí)光學(xué)檢測(cè)，CIS DSP芯片算法開(kāi)發(fā)，Si TFT傳感器面板，飛行時(shí)間相機(jī)傳感器，接近傳感器（量子效率，靈敏度，線(xiàn)性度，SNR等），d-ToF傳感器，i-ToF傳感器，多光譜傳感器，環(huán)境光傳感器（ALS），指紋顯示（FoD）傳感器。

規(guī)格

光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測(cè)試儀的功能很好，因此相關(guān)的規(guī)格和配件也很齊全。更多細(xì)節(jié)可再了解。

以下是主要的能力規(guī)格:

– 全光譜的波長(zhǎng)范圍：300-1100nm或350-1000nm（PTC）

– 波長(zhǎng)范圍可以擴(kuò)展到1700 nm或更高

– 單一波長(zhǎng)源：470nm、530nm、630nm、940nm（±5nm），或自定義

– 動(dòng)態(tài)范圍：80dB、100dB或140dB

– 測(cè)試夾具：DUT≤100mm x 100mm x 30mm(高度)[基本型]或定制

– 平臺(tái)：非、手動(dòng)3軸，或6軸（手動(dòng)+自動(dòng)）平臺(tái)（可定制）

應(yīng)用范圍

光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測(cè)試儀可用于：

*指紋識(shí)別（CIS+鏡頭、CIS+準(zhǔn)直器、TFT-陣列傳感器)

*CIS的微透鏡設(shè)計(jì)，晶圓級(jí)光學(xué)檢查

*CIS DSP 芯片的算法開(kāi)發(fā)

*Si TFT 傳感器面板

*飛行時(shí)間相機(jī)傳感器

*近距離感應(yīng)器 (量子效率、靈敏度、線(xiàn)性度、SNR等。)

*d-ToF傳感器、i-ToF傳感器

*多光譜傳感器

*環(huán)境光傳感器 (ALS)

*指紋顯示（FoD）傳感器