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[供應(yīng)]CMT2000微機控制電子*試驗機(50N-5kN) 返回列表頁
貨物所在地:廣東深圳市
更新時間:2024-11-28 21:00:08
有效期:2024年11月28日 -- 2025年5月28日
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CMT2000微機控制電子*試驗機(50N-5kN)
本設(shè)備采用單空間結(jié)構(gòu),試驗空間為下空間。主要由主機(包括機架、底座、傳動系統(tǒng))、夾具、變形測量系統(tǒng)、軟件系統(tǒng)、電氣系統(tǒng)構(gòu)成。主要用于非金屬材料的拉伸、壓縮、彎曲等的力學(xué)性能測試分析研究,具有應(yīng)力、應(yīng)變、位移三種閉環(huán)控制方式,可求出力、抗拉強度、彎曲強度、壓縮強度、彈性模量、斷裂延伸率、屈服強度等參數(shù)。根據(jù)GB及ISO、JIS、ASTM、DIN等標(biāo)準(zhǔn)進行試驗和提供數(shù)據(jù)。
CMT2000微機控制電子*試驗機(50N-5kN)
本設(shè)備所滿足的標(biāo)準(zhǔn):
1.試驗機標(biāo)準(zhǔn):電子*試驗機GB/T 16491-1996;
2.足的試驗方法標(biāo)準(zhǔn):GB/T 1040-2006、GB/T 1041-1992、GB/T 1042-1992(可根據(jù)客戶的要求添加相關(guān)試驗標(biāo)準(zhǔn),不超過5個。)
CMT2000微機控制電子*試驗機(50N-5kN)
設(shè)備主要技術(shù)參數(shù):
試驗力 | 50N-5000N |
試驗機準(zhǔn)確度等級 | 1(0.5)級 |
試驗力測量范圍 | 0.2%—*FS |
試驗力示值相對誤差 | 示值的±1%以內(nèi) |
試驗力分辨力 | ≤試驗力的1/±300000(全程分辨力不變) |
大變形測量范圍(可選配件) | 10-800mm(選配) |
大變形示值相對誤差 | 示值的±0.5%以內(nèi)(選配) |
大變形分辨力 | 0.008mm(選配) |
位移示值相對誤差 | 示值的±0.5%以內(nèi) |
位移分辨力 | 0.03µm |
力控速率調(diào)節(jié)范圍 | 0.01-5%FS/S |
力控速率相對誤差 | 設(shè)定值的±1%以內(nèi) |
橫梁速度調(diào)節(jié)范圍 | 0.001—500mm/min |
橫梁速度相對誤差 | 設(shè)定值±1%以內(nèi) |
恒力、恒變形、恒位移控制范圍 | 0.5%--*FS |
恒力、恒變形、恒位移控制精度 | 設(shè)定值<10%fs時,為設(shè)定值的±1%以內(nèi) |
設(shè)定值≥10%fs時,為設(shè)定值的±0.1%以內(nèi) | |
有效拉伸空間(帶夾具) | 500/750/1000mm(配GD203A) |
主機外型尺寸(長×寬×高) | 570×430×1400/1650/1900(mm) |
電源 | 220V±10%; 400W |
主機重量 | 約90kg |
注:5kN機型不能加高 |
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