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TF lab 2020SR單點非接觸式晶片電阻測試儀#技術規(guī)格

時間:2023/11/21閱讀:447
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EddyCus TF lab 2020SR – 非接觸式單點薄層電阻測試儀


EddyCus TF lab 2020SR 是一種非接觸式單點薄層電阻測量系統。該設備包含一個渦流傳感器組,可將微弱電流感應到導電薄膜和材料中。樣本中的感應電流會產生與測量對象的薄層電阻相關的電磁場。該技術獨立于表面特征或形態(tài)。此外,它不需要任何類型的充分樣品接觸或準備,例如從 2 點或 4 點探針測試(2PP、4PP)或霍爾效應或范德堡測量中得知。它既不需要設置測試結構,也不受表面粗糙度或非導電封裝或鈍化層的影響。此外,測量不會對測試的薄膜產生物理影響。由于存在機械磨損,渦流儀器具有較長的使用壽命。它獨立于接觸質量和高速,可實現高重復性和準確性,有利于研發(fā)和測試實驗室中各種薄膜的系統質量保證。 EddyCus 工具可以由具有各種數據記錄和導出功能的 SURAGUS 軟件驅動,也可以由 SURAGUS 軟件開發(fā)套件驅動的客戶軟件驅動。


軟件和設備控制

 

1、非常人性化的軟件

2、直觀的觸摸顯示屏導航

3、實時測量薄層電阻和層厚

4、軟件輔助手動映射選項

5、各種數據保存和導出選項


EddyCus TF lab 2020SR的數據表



測量技術:非接觸式渦流傳感器

   



基質:箔、玻璃、晶片等。

   



基底面積:8英寸/ 204毫米x 204毫米(三面開口)

   



最大值樣品厚度/傳感器間隙:3 / 5 / 10 / 25毫米(由最厚的樣品確定)

   



金屬薄膜(如銅)的厚度測量范圍:2納米–2毫米(根據薄層電阻)

   



設備尺寸(寬高比):11.4英寸x 5.5英寸x 17.5英寸/ 290毫米x 140毫米x 445毫米

   



重量:10公斤

   



更多可用功能:薄層電阻測量/金屬厚度監(jiān)控器



VLSR

LSR

MSR

HSR

VHSR


6 decades are measurable   by one sensor, but with slightly affected accuracy

Range [Ohm/sq]

0.0001 – 0.1

0.1 – 10

0.1 – 100

10 – 2000

1,000 – 200,000

Accuracy / Bias

± 1%

± 1 – 3%

± 3 – 5%

Repeatability   (2σ)

< 0.3%

< 0.5%

< 0.3%


   














VLSR - 極低薄層電阻 , LSR - 低薄層電阻 , MSR - 中等薄層電阻 , HSR - 高薄層電阻 , VHSR - 非常高薄層電阻

 


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