薄膜測(cè)厚儀的測(cè)試方法及介紹

關(guān)鍵詞：薄膜測(cè)厚儀  測(cè)厚儀  紙張厚度測(cè)量  0.1um測(cè)厚儀

薄膜等包裝材料厚度是否均勻一致，是檢測(cè)薄膜各項(xiàng)性能的基礎(chǔ)。薄膜厚度不均勻，不但會(huì)影響到薄膜各處的拉伸強(qiáng)度、阻隔性等，更會(huì)影響薄膜的后續(xù)加工。厚度的測(cè)量方法有多種，總體上分為非接觸式與接觸式，非接觸式包括射線，渦流，超聲波，紅外等多種類型，接觸式行業(yè)中也稱為機(jī)械式測(cè)厚，分為點(diǎn)接觸式與面接觸式。

目前我們所能見到的包裝材料實(shí)驗(yàn)室厚度測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)，包括國(guó)家標(biāo)淮，國(guó)際、美國(guó)、日本、歐洲標(biāo)準(zhǔn)等均指1定采用機(jī)械式測(cè)厚中的面接觸測(cè)厚的方式，同時(shí)該方法也被作為薄膜，鋁箔，紙張等材料的仲裁方法。

市場(chǎng)上的測(cè)厚產(chǎn)品很多，但總體上來講有兩種類型一種是非接觸式，另一種是壓力式面接觸測(cè)量。非接觸式測(cè)厚的方法在測(cè)量涂層或非塑料行業(yè)使用，在塑料薄膜行業(yè)試驗(yàn)室測(cè)厚以及仲裁薄膜厚度的測(cè)試方法為壓力式面接觸測(cè)量法，且試驗(yàn)室測(cè)厚也均用此方法進(jìn)行測(cè)試，因?yàn)楸∧ゎ惒牧显谖⒂^上是起伏不平的，非接觸測(cè)量（點(diǎn)接觸式）在此情況下無(wú)法評(píng)定其厚度，只有在一定的壓力下按規(guī)定的測(cè)試面積進(jìn)行測(cè)出的數(shù)據(jù)才具有統(tǒng)一性。

濟(jì)南中科電子科技有限公司作為長(zhǎng)期致力于研發(fā)和生產(chǎn)各類包裝檢測(cè)的試驗(yàn)儀器生產(chǎn)廠家，研發(fā)生產(chǎn)的TCK-02測(cè)厚儀是專業(yè)用于材料高精度厚度測(cè)試的試驗(yàn)室儀器，是執(zhí)行《GB/T6672-2001 塑料薄膜和薄片厚度測(cè)定機(jī)械測(cè)量法》等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的面接觸機(jī)械式測(cè)量的形式進(jìn)行檢測(cè)的儀器。此設(shè)備采用進(jìn)口優(yōu)質(zhì)傳感器，其精度是0.1u(1mm=1000u)，在機(jī)械式測(cè)量當(dāng)中這是當(dāng)前國(guó)際上的最高精度。TCK-02測(cè)厚儀采用微電腦控制，試驗(yàn)有手動(dòng)與自動(dòng)雙重功能，手動(dòng)是通過人工按鈕進(jìn)行測(cè)試，自動(dòng)測(cè)試則是設(shè)計(jì)測(cè)試的點(diǎn)數(shù)，儀器會(huì)全自動(dòng)的進(jìn)行測(cè)試，并將每一次的數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)，并可直接在儀器上進(jìn)行查詢與統(tǒng)計(jì)。另外儀器頂部還預(yù)留了用于測(cè)試壓力調(diào)整口，使壓力調(diào)整容易實(shí)施。且儀器可連接計(jì)算機(jī)，可以利用專業(yè)的軟件進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，并可以根據(jù)客戶的需求選擇按數(shù)據(jù)表統(tǒng)計(jì)或柱狀圖進(jìn)行統(tǒng)計(jì)兩種方式，同時(shí)還可以試驗(yàn)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成網(wǎng)頁(yè)格式，實(shí)際在網(wǎng)絡(luò)或局域網(wǎng)內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)的傳輸。造型美觀大方，符合人機(jī)工程原理，是一款能夠廣泛應(yīng)用于對(duì)厚度需要精確測(cè)量的各種場(chǎng)合的實(shí)用設(shè)備。

TCK-02測(cè)厚儀