高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱符合溫濕度測試標(biāo)準(zhǔn)風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，可模擬高溫低溫、低溫高溫等不同環(huán)境的測試條件，搭配容易操作和學(xué)習(xí)的高準(zhǔn)確性編程系統(tǒng)，廣泛適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品零部件在高低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，確定上述產(chǎn)品對(duì)高低溫及濕熱環(huán)境的耐溫適應(yīng)性，特別是產(chǎn)品電氣性能和機(jī)械性能的變化情況   也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力

高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)

1、GB10592-2008 高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(溫度變化）

2、GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：（IEC60068-2-1:2007） 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

3、GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：（IEC60068-2-1：2007） 試驗(yàn) B：高溫試驗(yàn)方法

4.GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：（IEC60068-2-78:2001） 試驗(yàn) Cab：恒定試驗(yàn)方法

5.GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：（IEC68-2-14） 試驗(yàn) N：溫度變化

6.GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)方

7.GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn)方

8.GB 24977-2010

9.GB/T 4893.7-2013

主要技術(shù)參數(shù)

注高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱可以根據(jù)客戶要求，定制非標(biāo)尺寸，溫濕度顯示精度，均勻度等都滿足市場上標(biāo)準(zhǔn)范圍。