Q-SUNXe-2氙燈試驗(yàn)箱(轉(zhuǎn)鼓式)：為紡織品耐光性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)，產(chǎn)品曝露在戶外，陽(yáng)光直接照射的盡可能大光強(qiáng)度每天只有幾小時(shí)。Q-SUN Xe-2色牢度儀可...

美國(guó)Q-LAB 氙燈試驗(yàn)箱：可以模擬全光譜太陽(yáng)光、高溫和潮濕所產(chǎn)生的損害。擁有雙噴淋功能的氙弧試驗(yàn)機(jī)。這個(gè)功能可以將第二種液體(如酸雨或肥皂液)噴淋到測(cè)試樣品上...

美國(guó)q-lab氙弧燈燈管 ：可以安裝在Atlas Weather-Ometers? Ci35, Ci35A, Ci65, Ci65A 以及 Ci4000等型號(hào)的...

X-12000 氙弧燈管：用于q-lab公司的氙燈老化試驗(yàn)箱之外，可與atlas的氙燈試驗(yàn)箱的燈管通用。可以安裝在Atlas Weather-Ometers&t...

光澤度儀(多角度)：主要用于噴涂、塑膠、印刷、金屬、陶瓷、建材、皮革、油漆等行業(yè)的材料表面光澤程度的測(cè)量。

單角度光澤度計(jì)：主要用于噴涂、塑膠、印刷、金屬、陶瓷、建材、皮革、油漆等行業(yè)的材料表面光澤程度的測(cè)量。

小孔光澤度儀(臺(tái)式)：2*3mm的測(cè)量口徑，適合曲面、不規(guī)則物體、平面的鏡面光澤測(cè)量。

激光測(cè)徑儀：適用于局域網(wǎng)（LAN）電纜，同軸電纜，光纖、扁平電纜，射頻電纜、通訊電纜，電力電纜、管材、線材。，各類玻璃管、玻璃棒等透明、半透明物體等外徑在線測(cè)量...

寧波激光測(cè)徑儀(雙軸系列)：適用于漆包線、光纖、不銹鋼絲、等超細(xì)線的外徑非接觸無(wú)損高精度在線測(cè)量。分辨率：0.0001mm。RS485通訊接口。

激光測(cè)徑儀(小線材專用)：測(cè)量漆包線、光纖、不銹鋼絲、微拉絲等超細(xì)線外徑在線檢測(cè)。

激光測(cè)徑儀-外徑跳動(dòng)檢測(cè)儀適用于膠輥、軸承類、鉆頭、銑刀、棒材。采用光電式測(cè)量原理，并且是非接式測(cè)量，對(duì)被測(cè)物無(wú)磨損，使得測(cè)徑儀在測(cè)量過(guò)程中不會(huì)因?yàn)槟p而損失精...

軸承外徑檢測(cè)儀(激光測(cè)徑儀)：對(duì)于膠輥、軸承類、鉆頭、銑刀、棒材等工件的檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的多點(diǎn)自動(dòng)采集，自動(dòng)保存，方便后期工廠進(jìn)行深入數(shù)據(jù)分析和質(zhì)量統(tǒng)計(jì)。

金相圖像分析系統(tǒng)：對(duì)采集的試樣圖譜進(jìn)行處理和實(shí)時(shí)比對(duì)、檢測(cè)、評(píng)級(jí)、分析、統(tǒng)計(jì)及輸出圖文報(bào)告。非金屬夾雜物測(cè)量、評(píng)級(jí)（其中包括硫化物、氧化物、硅酸鹽等）；珠光體、...

XQ-2B金相試樣鑲嵌機(jī)：適宜對(duì)于微小、不易手拿或不規(guī)則的金相、巖相試樣進(jìn)行鑲嵌，以便于對(duì)試樣進(jìn)行切割或研磨拋光，再進(jìn)行金相、光譜檢測(cè)或硬度測(cè)試。

P-1金相試樣拋光機(jī)(單盤(pán))：在金相試樣制備過(guò)程中，試樣的拋光是一道主要工序，經(jīng)過(guò)磨光的試樣，在拋光機(jī)上拋光后，可獲得光亮如鏡的表面。

金相試樣磨拋機(jī)(雙盤(pán))MP-2B：具備磨拋盤(pán)旋轉(zhuǎn)方向可任意選擇。本機(jī)采用了*進(jìn)的微處理器控制系統(tǒng)，更換金相砂紙和拋光織物可分別進(jìn)行磨、拋工序的操作，從而使本機(jī)展...

寧波-自動(dòng)金相試樣磨拋機(jī)(觸摸屏)：適用于對(duì)金相試樣的粗磨、精磨、粗拋光至精拋光過(guò)程進(jìn)行自動(dòng)制樣。制樣過(guò)程自動(dòng)化的研磨拋光設(shè)備。帶有水冷卻裝置和磨粒沖刷噴嘴，可...

金相切割機(jī)SQ80：適用于切割各種金屬、非金屬材料的試樣，以便觀察材料金相、巖相組織。本機(jī)帶有冷卻裝置，使用配置好的冷卻液可帶走切割時(shí)所產(chǎn)生的熱量，避免試樣過(guò)熱...

(寧波)金相材料切割機(jī):適用于切割一般金相試樣材料，以便觀察材料金相、巖相組織。

(寧波森泉科技有限公司)超聲波測(cè)厚儀：廣泛用于各種板材、管材壁厚、鍋爐容器壁厚及其局部腐蝕、銹蝕的情況，確定被測(cè)材料的厚度。