變溫電阻測(cè)試是衡量材料在不同溫度下的電阻變化情況，是材料的本征物理特性，測(cè)試變溫電阻具有重要的理論基礎(chǔ)，典型的NTC, PTC 材料對(duì)溫度敏感新材料，研究其溫度穩(wěn)定性，和溫度系數(shù)具有重要的意義。上海同果智能科技有限公司自主研發(fā)的變溫電阻/電阻率測(cè)試儀主要用于陶瓷，薄膜，金屬的電阻測(cè)試，采用四探針測(cè)試法測(cè)試，可以搭配吉時(shí)利6517B，日置SM71系列，同惠TH26系列高阻計(jì)或低阻計(jì)聯(lián)用測(cè)試電阻。

基本參數(shù)：溫度下線：-150℃，-100℃，-50℃，室溫

                 溫度上限： 200℃，400℃，500℃

                 測(cè)試電流：＞1pA

                 電壓：＜ 1000V

                 電阻：微歐~ 10P歐

                 測(cè)試材料：介質(zhì)陶瓷，薄膜，金屬，半導(dǎo)體等

                 測(cè)試方式：四探針法