場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡廠家告訴你,場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的基本構(gòu)造分析
閱讀:1097 發(fā)布時(shí)間:2021-11-23
電子顯微鏡是利用電子束成像的顯微系統(tǒng),它具有分辨率高,景深大,擴(kuò)展性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn),已經(jīng)成為研究微觀世界的重要手段之一。電子顯微鏡廣泛的應(yīng)用于生物農(nóng)林領(lǐng)域,它可以觀察農(nóng)作物的根、莖、葉、種子等的表面形貌,也可以觀察細(xì)胞、組織等的內(nèi)部超微結(jié)構(gòu),還可以進(jìn)行元素分析。借助強(qiáng)大的擴(kuò)展附件,電子顯微鏡還具有光電聯(lián)用、三維解析等功能。
場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FESEM)是電子顯微鏡的一種,廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析??梢杂^察和檢測(cè)非均相有機(jī)材料、無(wú)機(jī)材料及在上述微米、納米級(jí)樣品的表面特征。
場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的基本構(gòu)造:
場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FESEM)是電子顯微鏡的一種,廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析??梢杂^察和檢測(cè)非均相有機(jī)材料、無(wú)機(jī)材料及在上述微米、納米級(jí)樣品的表面特征。
場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的基本構(gòu)造:
電子槍:也稱電子源,產(chǎn)生連續(xù)不斷的穩(wěn)定的電子流。場(chǎng)發(fā)射電子槍與普通鎢絲電子槍有所不同,陰極呈桿狀,在它的一端有個(gè)極鋒利的尖點(diǎn)(直徑小于100nm),尖端的電場(chǎng)*,電子直接依靠“隧道”穿過(guò)勢(shì)壘離開(kāi)陰極,由加速電壓加速產(chǎn)生高速電子流飛向樣品。一般來(lái)說(shuō),掃描電鏡加速電壓通常為1-30kV。
電子透鏡:將從電子槍發(fā)射出來(lái)的電子匯聚成直徑最小為1-5nm電子束。
掃描系統(tǒng):使電子束作光柵掃描運(yùn)動(dòng)。