產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
布魯克 QUANTAX 能譜儀結(jié)合了出色的能量分辨率和 30 毫米更大的固體角度®活動(dòng)區(qū)域芯片。這使得探測(cè)器對(duì)希望在EDS應(yīng)用的整個(gè)譜圖中使用探測(cè)器的分析中非常有吸引力,從輕元素分析到快速面掃描Mapping,以及EDS和EBSD測(cè)量的結(jié)合。XFlash6-30一定會(huì)提供快速的結(jié)果。
一:XFlash6-30具有以下優(yōu)點(diǎn):
1.XFlash 6-30 出色的能量分辨率(Mn K® 的 123 eV,C K® 的 45 eV 和 F K+ 的 53 eV)®
2.其他可用分辨率為 Mn K® 的 126 eV和129 eV
3.*的脈沖處理能力
4.出色的輕元素和低能量X-ray分析性能(Be - Am 元素范圍)
5.空氣冷卻,不會(huì)因?yàn)槠渌鋮s系統(tǒng)而產(chǎn)生震動(dòng)
6.電源打開(kāi)后立即可用
7.運(yùn)營(yíng)成本低
8.免維護(hù)操作
9.小尺寸,包括 slim-line technology finger
10.重量低
二:布魯克 QUANTAX 能譜儀推薦應(yīng)用領(lǐng)域包括:
1.XFlash 6-30用于 SEM、microprobe、FIB-SEM 的 EDS 系統(tǒng)(焊接波紋管可作為選項(xiàng)使用)
2.將 EDS 和快速 EBSD 分析與eFlash FS 相結(jié)合
3.快速元素面掃描