ZEISS Sigma 場發(fā)射掃描電子顯微鏡用于高品質(zhì)成像與分析的葬司場發(fā)射掃描電子顯微鏡

靈活的探測測，4步工作流程的分析性能

將的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemin 電子光學元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間:設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。

Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測器，可快速方便地實現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結(jié)

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靈活的檢測器選項，獲取清晰圖像

更用新穎的ETSE和Inlens探測器在高真空下獲取高分辨率表面形貌信息，

使用VPSE或C2D檢測器在可變壓力模式下獲得清晰圖像。

使用aSTEM檢測器生成高分辨率透射圖像。

使用HDBSD或YAG檢測器分析成分。

用戶友好,操作簡單

SmartSEM Touch是現(xiàn)已有操作系統(tǒng)的附加組件，用于多用戶環(huán)境，是一種簡潔的用戶界面它同時為操作經(jīng)驗豐富的專家用戶和初級用戶提供了簡便的操作。

基于實際的實驗室環(huán)境，SEM的操作可能是電子顯微鏡專家的專領(lǐng)域。但是，非專業(yè)用戶(例如學生，接受培訓不久的人員或質(zhì)量工程師)也需要使用SEM獲取數(shù)據(jù)，因此也有使用SEM的需求。 Sigma 300和Sigma300 VP將非專業(yè)用戶的需求考慮在內(nèi)，其用戶界面選項可滿足操作經(jīng)驗豐富的顯微鏡專家和顯微鏡新手用戶的操作需求。

特點:

ZEISS Sigma 場發(fā)射掃描電子顯微鏡用于清晰成像的靈活探測

利用先進探測術(shù)為您的需求走制 Siqma，表征所有樣品

利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。

利用新一代的二次探測器，獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Siama 創(chuàng)新的C2D 和 可變壓力探測器，在低真空環(huán)境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。