產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,電子 |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
測(cè)試平臺(tái):精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
探測(cè)器:Si-Pin探測(cè)器
工作原理:利用x射線對(duì)金屬表面進(jìn)行激發(fā),檢測(cè)熒光強(qiáng)度來(lái)?yè)Q算成金屬表層的厚度的儀器
準(zhǔn)直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器
溫度要求:15℃至30℃。
電源:交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
外觀尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm
天瑞儀器專業(yè)從事光譜膜厚儀(鍍層/涂層/氧化膜等)測(cè)厚儀器的銷售業(yè)務(wù)及維修服務(wù),天瑞THICK 800A鍍金膜厚儀俗稱鍍層測(cè)厚儀,膜厚測(cè)試儀,X-RAY膜厚儀等等, 主要檢測(cè)金屬鍍層膜厚厚度的儀器,保證鍍層厚度品質(zhì),減少電鍍成本浪費(fèi)。此儀器特別適合于小的鍍層測(cè)量,如端子,連接器,細(xì)小的金線,在五金,汽車配件.線路板.衛(wèi)浴,等行業(yè).也有杰出的表現(xiàn).可測(cè)量.單層.雙層,合金層等多種鍍層
鍍層厚度測(cè)試儀測(cè)試方法
金屬和塑膠的混合樣品應(yīng)如何測(cè)試?
答: 盡可能拆分到均勻介質(zhì),既金屬和非金屬分開(kāi)放在不同工作曲線測(cè)量.
與SGS對(duì)比差異的產(chǎn)生?答: 因?yàn)閄RF是屬于物理方法,是表面測(cè)試儀器.而SGS是采用化學(xué)方法,使用試劑溶解測(cè)試.從測(cè)試原理來(lái)講,這兩種方法是存在差異的,另外采用的檢測(cè)設(shè)備是不同的,所以檢測(cè)結(jié)果有可能會(huì)產(chǎn)生差異。尤其是一些電鍍?cè)骷筒痪鶆虿馁|(zhì)更為明顯。SGS也使用制樣來(lái)消除材料不均勻而造成的測(cè)量誤差。
樣品不能保證測(cè)試所需的平面光滑,應(yīng)如何測(cè)試?答: 樣品的幾何形狀對(duì)測(cè)試結(jié)果可能會(huì)有影響,一般選擇比較平整的部分進(jìn)行測(cè)試,在軟件的算法上作了一定的處理,盡可能的降低了樣品幾何形狀不規(guī)則造成的負(fù)面影響。
不同曲線中峰的選擇和邊界選?。看穑?工作曲線的建立和感興趣元素邊界的劃分相對(duì)比較復(fù)雜,對(duì)操作者的專業(yè)知識(shí)要求較高,需要經(jīng)過(guò)長(zhǎng)期系統(tǒng)的培訓(xùn)才能掌握,并且曲線中的峰邊界相對(duì)比較固定,選定后不能隨意改動(dòng),為保證儀器數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和安全性,一般由我司技術(shù)人員制作和修改。
能量值相近,疊加峰的問(wèn)題如何解決?
答: 主要依靠對(duì)各個(gè)元素譜型的熟悉來(lái)分析,一般來(lái)說(shuō)S到Sn之間的元素受激發(fā)釋放出的為K線,就是一個(gè)比較高的主α峰后邊帶一個(gè)比較低的β峰。Sn以后的元素受激發(fā)釋放出的L線,一般有兩個(gè)等高或者高度相當(dāng)?shù)姆逋瑫r(shí)出現(xiàn),在一個(gè)峰被疊加峰影響后可其它峰譜是否出現(xiàn),沒(méi)有出現(xiàn)則說(shuō)明為疊加峰影響,反之就不是。處理辦法參考問(wèn)題8答案。
參數(shù)規(guī)格
1 分析元素范圍:K-U
2 同時(shí)可分析多達(dá)5層以上鍍層
3 分析厚度檢出限達(dá)0.005μm
4 多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.01μm
5 定位精度:0.1mm
5 測(cè)量時(shí)間:30s-300s
6 計(jì)數(shù)率:1300-8000cps
7 Z軸升降范圍:0-140mm
8 X/Y平臺(tái)可移動(dòng)行程:50mm(W)×50mm(D)
性能特點(diǎn)
1 滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
2 φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
安裝要求:
1 環(huán)境溫度要求:15℃-30℃
2 環(huán)境相對(duì)濕度:<70%
3 工作電源:交流220±5V
4 周圍不能有強(qiáng)電磁干擾。
鍍層厚度測(cè)試儀