X熒光鍍層測厚儀

工作原理：

鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。

X熒光鍍層測厚儀技術參數(shù)

重量：90 kg

相互獨立的基體效應校正模型

多變量非線性回收程序

長期工作穩(wěn)定性高

度適應范圍為15℃至30℃

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層

無損熒光鍍層測厚儀一次可同時分析多達五層鍍層

薄可測試0.005μm

分析含量一般為2ppm到99.9%

鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）

任意多個可選擇的分析和識別模型

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm

X熒光鍍層測厚儀性能優(yōu)勢

可靠性高：
由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩(wěn)定性很高。所以，其測量的可靠性更高。

滿足不同需求：
：測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設定儀器參數(shù)，并就有多種*的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。

快速：
1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。

無損：
測試前后，樣品無任何形式的變化。

直觀：
實時譜圖，可直觀顯示產品測試點

簡易：
對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。

性價比高：
相比其他類類儀器，x熒光鍍層測厚儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。