工作原理：

鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。

X熒光鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

重量：90 kg

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型

多變量非線性回收程序

長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性高

度適應(yīng)范圍為15℃至30℃

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層

無(wú)損熒光鍍層測(cè)厚儀一次可同時(shí)分析多達(dá)五層鍍層

薄可測(cè)試0.005μm

分析含量一般為2ppm到99.9%

鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm

X熒光鍍層測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)

可靠性高：
由于測(cè)試過程無(wú)人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以，其測(cè)量的可靠性更高。

滿足不同需求：
：測(cè)試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強(qiáng)大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并就有多種*的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測(cè)試需要。

快速：
1分鐘就可以測(cè)定樣品鍍層的厚度，并達(dá)到測(cè)量精度要求。

無(wú)損：
測(cè)試前后，樣品無(wú)任何形式的變化。

直觀：
實(shí)時(shí)譜圖，可直觀顯示產(chǎn)品測(cè)試點(diǎn)

簡(jiǎn)易：
對(duì)人員技術(shù)要求較低，操作簡(jiǎn)單方便,并且維護(hù)簡(jiǎn)單方便。

性價(jià)比高：
相比其他類類儀器，x熒光鍍層測(cè)厚儀在總體使用成本上有優(yōu)勢(shì)的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。